在電磁兼容性(EMC)測(cè)試中，特別是在Electrical Fast Transient(EFT)測(cè)試中，通常使用兩個(gè)主要的測(cè)試頻率。這兩個(gè)頻率分別是：

5 kHz：這是EFT測(cè)試中較低的頻率之一。5 kHz的測(cè)試主要用于模擬設(shè)備在電源線上遇到的低頻瞬態(tài)干擾，例如由電動(dòng)機(jī)啟動(dòng)、繼電器開(kāi)關(guān)等引起的干擾。

100 kHz：這是EFT測(cè)試中較高的頻率之一。100 kHz的測(cè)試主要用于模擬設(shè)備在電源線上遇到的高頻瞬態(tài)干擾，例如由開(kāi)關(guān)電源電子設(shè)備等高頻噪聲源可能引入的干擾。

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這兩個(gè)頻率用于模擬電源線上的不同類(lèi)型的瞬態(tài)干擾。以下是它們之間的一些區(qū)別：

測(cè)試目的：

5 kHz：通常用于測(cè)試低頻干擾，例如由于電動(dòng)機(jī)啟動(dòng)、繼電器開(kāi)關(guān)等引起的干擾。

100 kHz：用于測(cè)試高頻干擾，模擬例如開(kāi)關(guān)電源電子設(shè)備等高頻噪聲源可能引入的干擾。

環(huán)境模擬：

5 kHz：更適合模擬一些典型的低頻電磁干擾，對(duì)于一些工業(yè)和家用設(shè)備可能會(huì)更貼近實(shí)際情況。

100 kHz：更適用于模擬高頻電磁噪聲，對(duì)于一些電子設(shè)備和通信設(shè)備可能更有代表性。

設(shè)備響應(yīng)：

5 kHz：測(cè)試設(shè)備對(duì)于相對(duì)較低頻率的干擾的響應(yīng)，如何保持正常工作。

100 kHz：測(cè)試設(shè)備對(duì)于相對(duì)較高頻率的干擾的響應(yīng)，以確保在高頻環(huán)境下設(shè)備仍能保持穩(wěn)定性。

標(biāo)準(zhǔn)要求：

標(biāo)準(zhǔn)(如IEC 61000-4-4)通常規(guī)定了在特定頻率下的測(cè)試要求，以確保設(shè)備在典型的電磁環(huán)境中能夠正常運(yùn)行。

選擇測(cè)試頻率時(shí)，通常需要參考設(shè)備的用途和工作環(huán)境，以確保測(cè)試的代表性和可靠性。不同的頻率模擬不同類(lèi)型的電磁干擾源，因此測(cè)試結(jié)果有助于評(píng)估設(shè)備對(duì)各種干擾的抗性。

審核編輯：湯梓紅