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PCIe Tx/Rx 物理層信號完整性測試方法詳解

君鑒科技 ? 2024-01-18 08:27 ? 次閱讀

PCI Express (PCIe) 是一種高性能通用 I/O 互連協(xié)議,廣泛用于各種計算產(chǎn)品通信產(chǎn)品。由于時延低、帶寬明顯要更高,因此業(yè)界正在融合到 PCIe,作為高速串行總線標準。PCIe在NVM Express SSD應用中尤其流行。

PCIe 既有串行通信接口,又有存儲接口,這 一點與 SASSATA 不同,因此實現(xiàn)了額外的行業(yè)擴充能力。PCIe 在跟復合 (系統(tǒng)/主機) 與端點 (插件) 之間基于點到點總線拓撲,支持全雙工通信。這些規(guī)范是由 PCI-SIG 開發(fā)和維護的,這是一家由 900 多家公司組成的協(xié)會。

PCIe 物理層包括

差分低壓100MHz基準時鐘

可以擴充通路寬度:x1, x2, x4, x8, x12, x16, x32

可以擴充速度:2.5GT/s(Gen1), 5GT/s(Gen2), 8GT/s(Gen3), 16GT/s (Gen4)

在一致性測試中使用不同的連接器,如CEM、U.2(SFF-8639)、M.2或直接焊接到PCB

ChrentPCI Express 它用在哪里?

PCIe 是數(shù)據(jù)中心和客戶端應用中使用的主要的新興高性能存儲和串行總線。PCIe 在外設之間實現(xiàn)了數(shù)據(jù)通信。

數(shù)據(jù)中心應用和客戶端應用都有一個核心處理器, 為主機系統(tǒng)上的架構提供原始處理能力。這兩種應用還必須接口各種外設器件,如 SATA 驅動器、 USB 設備等。在跟復合主機與端點器件之間,通常有許多路長損耗通道和連接器,帶來了噪聲、串擾、 定時不規(guī)則特點和其他損傷。因此,客戶端和數(shù)據(jù)中心側的 PCIe 器件必須能夠可靠地演示 PCI 規(guī)定的一致性,補償損傷,與 PCIe 器件互操作。

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ChrentPCIe Gen4 最新進展

由于業(yè)界需要提高數(shù)據(jù)吞吐量和帶寬吞吐量,因此 PCIe 數(shù)據(jù)速率必須提高,以跟上需求發(fā)展步伐。所以 Gen4 中最大的變化之一,是數(shù)據(jù)速率提高了 2 倍,從 Gen3 的 8GT/s 提高到 Gen4 的 16GT/s。

下面列明了最新Gen4標準的主要增強功能

16GT/s, 使用加擾 , 與 8GT/s 相同 , 編碼與Gen3相比無變化 (128b/130b)

對加壓的Rx眼圖參數(shù),RJ (隨機性抖動) 從3ps (PCIe3)下降到~1ps (PCIe4)

Gen4連接器向下兼容Gen1/2/3

與行為Rx EQ數(shù)據(jù)速率有關

限定通道:對更長的通道和/或第二個連接器,要求使用中繼器 (再驅動器和再定時器)

測試通道大約長12”,總損耗-28dB

在同一個器件上同時測試Gen3和Gen4時,被測試的各個預置值數(shù)量將翻一倍, 總 計22個。Gen3 有11個預置值(P0~P10),Gen4有11個預置值 (P0~P10)

新的SRIS獨立RefClk模式-SRNS-單獨的獨立RefClk, 沒有SSC結構-SRIS-單獨的獨立RefClk,采用SSC結構

新的Rx通路裕量功能測量通道最后的眼高 (EH)/ 眼寬 (EW) 裕量

Gen4的最小眼高已經(jīng)下降到15mVpp

Gen4 CEM規(guī)范發(fā)布了rev 0.5

ChrentPCIe Refclk 結構

為了方便發(fā)射器件和接收器件可靠地傳輸數(shù)據(jù),PCI-SIG 對基準時鐘提出了非常嚴格的要求。標準規(guī)定使用 100 MHz 時鐘 (Refclk),發(fā) 射器件和接收器件上的頻率穩(wěn)定性大于 ±300 ppm,并支持三種不同的時鐘結構,同時協(xié)調(diào)根復合芯片和端點芯片。

在傳統(tǒng)上,PCIe 一直采用公共時鐘結構,跟復合和芯片可以偏離相同的時鐘配置,而不是以不同的間隔運行,后者測試起來更具有挑戰(zhàn)性。公共時鐘是 一種更加精確的結構,但整合到系統(tǒng)中的靈活性較差。通過采用 Gen4 標準,系統(tǒng)可望更多地采用分開 / 獨立的時鐘結構。時鐘穩(wěn)定性必不可少,以支持三種不同的時鐘輸入結構。

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ChrentPCI Express 外形

為了方便發(fā)射器件和接收器件可靠地傳輸數(shù)據(jù),PCI-SIG 對基準時鐘提出了非常嚴格的要求。標準規(guī)定使用 100 MHz 時鐘 (Refclk),發(fā)射器件和接收器件上的頻率穩(wěn)定性大于 ±300 ppm,并支持三種不同的時鐘結構,同時協(xié)調(diào)根復合芯片和端點芯片。

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Chrent一致性測試預置值

為通過一致性測試,實現(xiàn)互操作,每臺器件都要求進行 PCI-SIG 認證,它基于一個預置值或發(fā)射機均衡設置列表,從每秒 2.5 Gb/s 的低 數(shù)據(jù)速率直到最新的 16 Gb/s 的高數(shù)據(jù)速率。這些預置值用來均衡通道損耗,優(yōu)化鏈路上的信號完整性。每個預置值都是主機應用到端 點的下沖和去加重的具體組合。

下表詳細列出了 Gen3 和 Gen4 的 11 種預置值。DUT 必須支持所有預置值。為降低測試時間,提高自動化速度,建議使用 100MHz 時鐘突發(fā),作為一致性測試夾具的輸入,在這些預置值之間快速切換。如果您可以使用 100MHz 脈沖撥碼開關自動執(zhí)行預置測試,那么您可以節(jié)約寶貴的測試時間,因為您可以自動采集和分析各個指標,如抖動、電壓和定時。

下面預置值同時適用發(fā)射機測試和接收機測試。

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Chrent發(fā)射機 (Tx) 測試基礎知識

下面列明了對 PCIe 發(fā)射機自動進行一致性測試的各個步驟。自動軟件至關重要,因為它可以使用 100 MHz 基準時鐘自動切換預置測試模式,與手動按鈕進行撥碼切換相比,可以把測試時間縮短兩倍。

許多 PCI-SIG 測試早期實現(xiàn)者更愿意使用泰克 DPOJET 和 SDLA 軟件之類的工具,來完成早期 Gen4 表征和調(diào)試。

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Chrent基本規(guī)范發(fā)射機 (Tx) 測試

在芯片器件的基本發(fā)射機測試中,直接規(guī)定了發(fā)射機引腳上的測量項目。由于有時不可能接入引腳,因此應在盡可能靠近這個基準點的位置執(zhí)行測量。

在芯片級可通過多種方式完成這一測試

如果您深入了解類似的復制通道的S參數(shù),那么可以反嵌接續(xù)通道的損耗。您可以看到發(fā)射機引腳上的信號是什么樣的,而沒有增加通道影響。

示波器上使用均衡或CTLE,均衡消除通道損耗。

使用高帶寬探頭,探測位置應盡可能靠近發(fā)射機引腳 。

示波器可以使用 SDLA、Seasim 和 SigTest 之類 的軟件工具,執(zhí)行嵌入 / 反嵌、均衡和眼圖分析。這種軟件級分析允許設計人員在試產(chǎn)前優(yōu)化和調(diào)試芯片性能,節(jié)約時間、資金及全面調(diào)試。確保采用的測量系統(tǒng)足夠靈活,能夠測試和調(diào)試被測器件的特定功能。

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ChrentCEM 和 U.2 規(guī)范發(fā)射機 (Tx) 測試

在芯片器件的基本發(fā)射機測試中,直接規(guī)定了發(fā)射機引腳上的測量項目。由于有時不可能接入引腳,應在盡可能靠近此基準點的位置執(zhí)行測量。

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系統(tǒng)和插件在CEM級發(fā)射機測試中,會像接收機分片器看到的那樣測量發(fā)射機的信號完整性,但由于外形及測試過程中使用的夾具,不可能直接接入信號。為保證測量精度,應實現(xiàn)下面介紹了兩個重要組件。

1. 把一致性測試通道的性能特點向回嵌入到正在測量的信號中。這要求深入了解通道的插入損耗和S參數(shù)。由于這個原因,PCI-SIG為CEM測試提供了一致性測試夾具及已知的S參數(shù)。

2. 使用軟件工具應用通道均衡,測量和分析通道末端張開的眼圖。PCI-SIG提供了一個軟件工具,稱為SIG-Test,應用與PCI-SIG特性有關的行為均衡器,提供測試通過/未通過結果。定制示波器軟件,如泰克DPOJET和SDLA,可以從閉上的眼圖到張開的眼圖,全面表征和調(diào)試均衡的信號。

Chrent接收機 (Rx) 測試基礎知識

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ChrentPCIe 測試和調(diào)試設置中的關鍵考慮因素

由于Gen 4標準的出現(xiàn),PCIe的速度和復雜度正不斷提高,工程師面臨著新的設計挑戰(zhàn)、更短的產(chǎn)品開發(fā)周期,同時需要了解新的標準規(guī)范及新的一致性測試要求。

在您處理Gen3或Gen4 PCIe器件測試和調(diào)試前,要問以下幾個關鍵問題:

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