--- 產(chǎn)品參數(shù) ---
- 分辨率 0.1nm
--- 產(chǎn)品詳情 ---
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優(yōu)可測(cè)激光位移傳感器2024-10-31 13:52
產(chǎn)品型號(hào)：SL-5000 采樣頻率：160KHz -
優(yōu)可測(cè)超景深數(shù)碼顯微鏡2024-09-29 14:08
產(chǎn)品型號(hào)：AH-3000 產(chǎn)地：中國(guó) 攝像軟件：CMOS XY平臺(tái)尺寸：220mm*180mm 放大倍率：500X 幀率：30FPS -
優(yōu)可測(cè)一鍵式投影測(cè)量?jī)x-尺寸測(cè)量2023-11-15 11:33
產(chǎn)品型號(hào)：FM-9030 是否進(jìn)口：否 測(cè)量精度：±1.5μm 拍攝元件：2000w像素 黑白CMOS -
優(yōu)可測(cè)一鍵式圖像尺寸測(cè)量?jī)x-閃測(cè)儀2023-11-15 11:29
產(chǎn)品型號(hào)：FM-9020 是否進(jìn)口：否 測(cè)量精度：±1.5μm 拍攝元件：2000萬(wàn)像素 黑白CMOS -
優(yōu)可測(cè)一鍵式影像測(cè)量?jī)x-閃測(cè)儀2023-11-15 11:26
產(chǎn)品型號(hào)：FM-9005 是否進(jìn)口：否 測(cè)量精度：±1.5μm 拍攝元件：2000萬(wàn)像素 黑白CMOS -
優(yōu)可測(cè)衍射三維形貌儀2023-08-16 13:57
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一站式晶圓檢測(cè)解決方案2023-08-15 17:55
產(chǎn)品型號(hào)：WM300X 粗糙度RMS重復(fù)性：0.003nm 臺(tái)階重復(fù)性：0.06% 臺(tái)階準(zhǔn)確度：0.3% -
一站式晶圓三維檢測(cè)2023-08-15 17:54
產(chǎn)品型號(hào)：WM300R 粗糙度RMS重復(fù)性：0.005nm 臺(tái)階重復(fù)性：0.09% 臺(tái)階準(zhǔn)確度：0.5% -
優(yōu)可測(cè)半透明膜厚儀2023-08-15 17:45
產(chǎn)品型號(hào)：AF-X010 分辨率：0.1nm -
優(yōu)可測(cè)透明薄膜厚度測(cè)量?jī)x2023-08-15 17:43
產(chǎn)品型號(hào)：AF-T100 分辨率：0.1nm
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優(yōu)可測(cè)一鍵尺寸測(cè)量?jī)x：磁芯尺寸測(cè)量的優(yōu)選方案 | 行業(yè)應(yīng)用2024-12-17 18:03
為確保生產(chǎn)的變壓器符合各類(lèi)電性能設(shè)計(jì)，需要對(duì)磁芯進(jìn)行大量尺寸檢測(cè)。優(yōu)可測(cè)一鍵測(cè)量?jī)xFM9000系列：瞬間即可完成磁芯幾何尺寸測(cè)量，進(jìn)行OK/NG判定，提高產(chǎn)品良率。167瀏覽量 -
優(yōu)可測(cè)白光干涉儀：助力手機(jī)玻璃蓋板品質(zhì)提升 | 行業(yè)應(yīng)用2024-11-19 01:03
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新品發(fā)布 | 優(yōu)可測(cè)激光位移傳感器SL-5000系列：超高精度、超快采樣速率、超小光點(diǎn)直徑2024-10-29 08:05
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優(yōu)可測(cè)在刀片制造工藝的量測(cè)應(yīng)用——一鍵尺寸測(cè)量?jī)x篇2024-10-13 08:07
刀片作為數(shù)控機(jī)床關(guān)鍵工具，國(guó)產(chǎn)刀具正逐步實(shí)現(xiàn)進(jìn)口替代。優(yōu)可測(cè)FM-9000一鍵尺寸測(cè)量?jī)x助力刀片廠(chǎng)家快速批量測(cè)量，確保每枚刀片全尺寸檢測(cè)，精度高達(dá)0.4微米。278瀏覽量 -
優(yōu)可測(cè)白光干涉儀：激光陀螺儀提升良率與精度的關(guān)鍵2024-09-28 08:06
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優(yōu)可測(cè)一鍵式影像測(cè)量?jī)x：實(shí)現(xiàn)沖壓端子的快速精準(zhǔn)尺寸檢測(cè) | 行業(yè)應(yīng)用2024-09-05 08:07
本篇將為大家介紹沖壓端子尺寸精度的重要性、影響因素以及快速準(zhǔn)確檢測(cè)方法，幫助沖壓端子廠(chǎng)商降低成本、提高良率、縮短交期。340瀏覽量 -
優(yōu)可測(cè)白光干涉儀助力紅外探測(cè)行業(yè)發(fā)展——晶圓襯底檢測(cè)2024-08-30 17:38
晶圓襯底的質(zhì)量對(duì)紅外探測(cè)器芯片性能至關(guān)重要，優(yōu)可測(cè)白光干涉儀可以高精度測(cè)量晶圓襯底的亞納米級(jí)粗糙度、納米級(jí)臺(tái)階、整體平面度、微觀(guān)三維形貌等。653瀏覽量 -
閃測(cè)儀的精度概念解析2024-08-30 13:01
上期，小優(yōu)博士講述了和白光干涉儀相關(guān)的精度概念：上期回顧BREAKAWAY與白光干涉儀相關(guān)的精度概念都有哪些|科普篇優(yōu)可測(cè)今天，小優(yōu)博士為大家繼續(xù)帶來(lái)《和一鍵影像測(cè)量?jī)x相關(guān)的精度概念》一、在單視野測(cè)量下的相關(guān)概念1、分辨率：測(cè)量平面尺寸時(shí)能夠分辨的最小變化量。2、測(cè)量精度：多次測(cè)量同一標(biāo)準(zhǔn)片，得到的測(cè)量結(jié)果之間的平均值和真實(shí)值的偏差。測(cè)量精572瀏覽量 -
與白光干涉儀相關(guān)的精度概念都有哪些2024-08-13 08:31
文章介紹了白光干涉儀的Z軸垂直精度和XY橫向精度的相關(guān)概念，包括垂直分辨率、RMS重復(fù)性、臺(tái)階重復(fù)性等，以及影響精度的因素，并強(qiáng)調(diào)使用環(huán)境的穩(wěn)定性對(duì)精度的重要性。549瀏覽量
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