運算放大器是差分輸入、單端輸出的極高增益放大器，常用于高精度模擬電路，因此必須精確測量其性能。但在開環(huán)測量中，其開環(huán)增益可能高達107或更高，而拾取、雜散電流或塞貝克（熱電偶）效應(yīng)可能會在放大器輸入端產(chǎn)生非常小的電壓，這樣誤差將難以避免。

　　通過使用伺服環(huán)路，可以大大簡化測量過程，強制放大器輸入調(diào)零，使得待測放大器能夠測量自身的誤差。圖1顯示了一個運用該原理的多功能電路，它利用一個輔助運放作為積分器，來建立一個具有極高直流開環(huán)增益的穩(wěn)定環(huán)路。開關(guān)為執(zhí)行下面所述的各種測試提供了便利。

　　過一個1000:1衰減器施加于DUT的同相輸入端。負反饋將DUT輸出驅(qū)動至地電位。（事實上，實際電壓是輔助放大器的失調(diào)電壓，更精確地說是該失調(diào)電壓加上輔助放大器的偏置電流在100 kΩ電阻上引起的壓降，但它非常接近地電位，因此無關(guān)緊要，特別是考慮到測量期間此點的電壓變化不大可能超過幾mV）。

　　測試點TP1上的電壓是施加于DUT輸入端的校正電壓（與誤差在幅度上相等）的1000倍，約為數(shù)十mV或更大，因此可以相當輕松地進行測量。

　　理想運算放大器的失調(diào)電壓（Vos）為0，即當兩個輸入端連在一起并保持中間電源電壓時，輸出電壓同樣為中間電源電壓。現(xiàn)實中的運算放大器則具有幾微伏到幾毫伏不等的失調(diào)電壓，因此必須將此范圍內(nèi)的電壓施加于輸入端，使輸出處于中間電位。

　　圖2給出了最基本測試——失調(diào)電壓測量的配置。當TP1上的電壓為DUT失調(diào)電壓的1000倍時，DUT輸出電壓處于地電位。