GaN可靠性測(cè)試新突破：廣電計(jì)量推出高壓性能評(píng)估方案

氮化鎵（GaN），作為一種具有獨(dú)特物理和化學(xué)性質(zhì)的半導(dǎo)體材料，憑借卓越的功率轉(zhuǎn)換效率、超快的開(kāi)關(guān)速度以及出色的耐高溫性能，在5G通信、新能源汽車(chē)、數(shù)據(jù)中...

2024-11-28 標(biāo)簽：SiCGaN可靠性測(cè)試 230 0

使用Keithley 4200-SCS半導(dǎo)體表征系統(tǒng)進(jìn)行氧化物可靠性測(cè)試

氧化物完整性是一個(gè)重要的可靠性問(wèn)題，特別對(duì)于今天大規(guī)模集成電路的MOSFET器件， 其中氧化物厚度已經(jīng)縮放到幾個(gè)原子層。JEDEC 35標(biāo)準(zhǔn) (EIA/...

2024-11-18 標(biāo)簽：半導(dǎo)體氧化物Keithley 363 0

芯片測(cè)試有哪些 芯片測(cè)試介紹

本文就芯片測(cè)試做一個(gè)詳細(xì)介紹。芯片的測(cè)試大致可以分成兩大部分。CP(chipprobering)和FT(finaltest)。某些芯片還會(huì)進(jìn)行SLT（s...

2024-07-26 標(biāo)簽：晶圓芯片測(cè)試可靠性測(cè)試 2368 0

推拉力測(cè)試機(jī)在半導(dǎo)體行業(yè)應(yīng)用，設(shè)備功能、技術(shù)指標(biāo)及安裝要求

最近有客戶(hù)在網(wǎng)站上咨詢(xún)芯片焊接強(qiáng)度測(cè)試設(shè)備，主要用于半導(dǎo)體激光器。半導(dǎo)體激光器廣泛應(yīng)用在雷達(dá)，遙控遙測(cè)，航空航天等應(yīng)用中。對(duì)其可靠性提出了越來(lái)越高的要求...

2024-06-07 標(biāo)簽：半導(dǎo)體試驗(yàn)機(jī)可靠性測(cè)試 1189 0

功率器件環(huán)境可靠性測(cè)試的加速老化物理模型

高溫柵偏（HighTemperatureGateBias，HTGB）、高溫反偏（HighTemperatureReverseBias，HTRB）、高溫高...

2024-04-23 標(biāo)簽：功率器件可靠性測(cè)試半導(dǎo)體服務(wù) 1356 0

可靠性測(cè)試中HALT實(shí)驗(yàn)與HASS實(shí)驗(yàn)的區(qū)別

電子產(chǎn)品高加速壽命測(cè)試HALT、高加速應(yīng)力篩選測(cè)試HASS，都是可靠性測(cè)試的方法，用于評(píng)估電子產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的性能表現(xiàn)和可靠性。那他們之前的區(qū)別是什么...

2024-01-30 標(biāo)簽：可靠性測(cè)試可靠性試驗(yàn)HALT 1247 0

IGBT的可靠性測(cè)試方案

在當(dāng)今的半導(dǎo)體市場(chǎng)，公司成功的兩個(gè)重要因素是產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性。而這兩者是相互關(guān)聯(lián)的，可靠性體現(xiàn)為在產(chǎn)品預(yù)期壽命內(nèi)的長(zhǎng)期質(zhì)量表現(xiàn)。任何制造商要想維續(xù)經(jīng)營(yíng)，...

2024-01-17 標(biāo)簽：半導(dǎo)體安森美IGBT 1433 0

半導(dǎo)體封裝的可靠性測(cè)試及標(biāo)準(zhǔn)介紹

本文將介紹半導(dǎo)體的可靠性測(cè)試及標(biāo)準(zhǔn)。除了詳細(xì)介紹如何評(píng)估和制定相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)以外，還將介紹針對(duì)半導(dǎo)體封裝預(yù)期壽命、半導(dǎo)體封裝在不同外部環(huán)境中的可靠性，及機(jī)械可...

2024-01-13 標(biāo)簽：半導(dǎo)體半導(dǎo)體封裝可靠性測(cè)試 5259 0

什么是可靠性測(cè)試？智能鑰匙的可靠性測(cè)試

智能鑰匙是一種新型的智能家居設(shè)備，它使你可以通過(guò)手機(jī)或者其他智能設(shè)備輕松地控制你的房門(mén)、車(chē)門(mén)、辦公室等入口。智能鑰匙可以提供更加便捷、安全和智能化的操作...

2023-10-17 標(biāo)簽：智能家居智能鑰匙可靠性測(cè)試 661 0

三防測(cè)試：揭秘電子產(chǎn)品的可靠性檢測(cè)

什么是三防測(cè)試？在電子產(chǎn)品的設(shè)計(jì)和制造過(guò)程中，確保其能夠在各種惡劣環(huán)境下穩(wěn)定運(yùn)行是至關(guān)重要的。三防試驗(yàn)，包括濕熱試驗(yàn)、霉菌試驗(yàn)和鹽霧試驗(yàn)，正是為了模擬這...

2024-11-06 標(biāo)簽：電子產(chǎn)品可靠性測(cè)試三防 384 0

明治傳感 | 一文看懂傳感器的環(huán)境與可靠性測(cè)試

完善的質(zhì)量管理體系是企業(yè)實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品卓越品質(zhì)的重要保障明治傳感深知，在高度精密且對(duì)環(huán)境適應(yīng)性要求極高的傳感器領(lǐng)域，任何細(xì)微的瑕疵都可能對(duì)產(chǎn)品的性能和穩(wěn)定性造...

2024-10-29 標(biāo)簽：傳感器試驗(yàn)機(jī)可靠性測(cè)試 394 0

SPEA邀您關(guān)注NEPCON汽車(chē)電子智造創(chuàng)新大會(huì)

NEPCON是深耕汽車(chē)電子行業(yè)專(zhuān)業(yè)展會(huì)之一，在加速汽車(chē)電子產(chǎn)業(yè)技術(shù)進(jìn)步、促進(jìn)產(chǎn)業(yè)鏈協(xié)同發(fā)展發(fā)揮著積極作用。7月24日，NEPCON將在上海國(guó)際汽車(chē)城瑞立...

2024-07-12 標(biāo)簽：芯片汽車(chē)電子可靠性測(cè)試 442 0

如何選擇合適的電源模塊?你了解電源模塊可靠性測(cè)試嗎?

模塊式結(jié)構(gòu)的優(yōu)點(diǎn)甚多，因此模塊電源廣泛用于交換設(shè)備、接入設(shè)備、移動(dòng)通訊、微波通訊等領(lǐng)域。為增進(jìn)大家對(duì)電源模塊的認(rèn)識(shí)，本文將對(duì)電源模塊的選擇以及電源模塊的...

2024-07-04 標(biāo)簽：電源模塊可靠性測(cè)試 906 0

整車(chē)模擬環(huán)境可靠性實(shí)驗(yàn)房—汽車(chē)環(huán)境模擬綜合試驗(yàn)室

整車(chē)模擬環(huán)境可靠性實(shí)驗(yàn)房—汽車(chē)環(huán)境模擬綜合試驗(yàn)室是現(xiàn)代汽車(chē)工業(yè)中不可或缺的重要設(shè)施。它以其全面、精準(zhǔn)的環(huán)境模擬能力和先進(jìn)的安全性能測(cè)試技術(shù)為汽車(chē)制造商提...

2024-02-23 標(biāo)簽：試驗(yàn)箱可靠性測(cè)試汽車(chē)測(cè)試 584 0

Lab Companion LED燈具可靠性測(cè)試方案

一 、溫度循環(huán)測(cè)試 測(cè)試方法： 1、將5款LED燈具放置在一個(gè)測(cè)試箱，測(cè)試箱的溫度可以調(diào)節(jié)溫度變化速率； 2、按LED燈具的額定輸入電壓接通電源點(diǎn)燈； ...

2024-01-11 標(biāo)簽：led燈可靠性測(cè)試 561 0

LED燈具可靠性測(cè)試方案-Lab Companion

目前，國(guó)內(nèi)不少?gòu)S家在生產(chǎn)燈具后僅僅對(duì)燈具進(jìn)行簡(jiǎn)單的老化測(cè)試后出貨，顯然這是無(wú)法檢驗(yàn)出LED的壽命期的失效情況，同時(shí)無(wú)法保證產(chǎn)品的質(zhì)量，因此后期可能會(huì)有不...

2024-01-11 標(biāo)簽：led可靠性測(cè)試 437 0

光纖連接器可靠性要求

未來(lái)網(wǎng)絡(luò)將更加依賴(lài)可靠的光連接。近年來(lái)，智慧城市、固定寬帶、移動(dòng)互聯(lián)網(wǎng)和物聯(lián)網(wǎng)等產(chǎn)業(yè)的快速發(fā)展，推動(dòng)了大數(shù)據(jù)與云計(jì)算的快速增長(zhǎng)。每天都有海量數(shù)據(jù)產(chǎn)生，需...

2023-12-27 標(biāo)簽：電子元器件網(wǎng)絡(luò)光纖連接器 835 0