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? 本文介紹了光學(xué)線型編碼器中涉及到的成像掃描原理、干涉掃描原理以及全息型原理。 一、成像掃描原理 簡(jiǎn)單地說成像掃描原理用透射光生成信號(hào)：兩個(gè)柵距相同或...
VL53L1CB TOF開發(fā)(2)----多區(qū)域掃描模式
多區(qū)域掃描模式是 VL53L1 飛行時(shí)間 (Time-of-Flight, ToF) 傳感器的一項(xiàng)高級(jí)功能，允許用戶同時(shí)對(duì)多個(gè)區(qū)域進(jìn)行距離測(cè)量。該模式通...
場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 500規(guī)格參數(shù)
今天三本精密儀器小編給您介紹場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM500規(guī)格參數(shù)及樣品制備要求：一、樣品要求（1）本儀器不接收磁性、易潮、液體、有機(jī)、生物、不...
用于滲透測(cè)試中對(duì)40x頁面進(jìn)行bypass測(cè)試的掃描工具
工具介紹 f403是一款用于滲透測(cè)試中對(duì)40x頁面進(jìn)行bypass測(cè)試的掃描工具，通過多種方式嘗試?yán)@過狀態(tài)碼為40x的頁面，采用go編寫。 安裝與使用 ...
一款適用于以滲透測(cè)試團(tuán)隊(duì)為場(chǎng)景的移動(dòng)端信息收集掃描工具
工具介紹 一款適用于以HW行動(dòng)/紅隊(duì)/滲透測(cè)試團(tuán)隊(duì)為場(chǎng)景的移動(dòng)端(Android、iOS、WEB、H5、靜態(tài)網(wǎng)站)信息收集掃描工具，可以幫助滲透測(cè)試工程...
PLC采用循環(huán)掃描的工作方式，在PLC中用戶程序按先后順序存放，CPU從第一條指令開始執(zhí)行程序，直到遇到結(jié)束符后又返回第一條，如此周而復(fù)始不斷循環(huán)。PL...
STM32CUBEIDE（9）----雙ADC輪詢模式掃描多個(gè)通道
概述 本章STM32CUBEMX配置STM32F103雙ADC輪詢模式掃描多個(gè)通道，通過串口進(jìn)行打印。 生成例程 使用STM32CUBEMX生成例程，這...
2022-11-30 標(biāo)簽：adc掃描STM32CUBEIDE 3843 1
易靈思已經(jīng)有專門的ppt把優(yōu)化策略講解完了。這里只是把操作再重新演示下，方便查閱用。
plc實(shí)現(xiàn)3個(gè)連續(xù)動(dòng)作的方法
當(dāng)我們把編寫好的程序下載到plc中它就開始對(duì)用戶程序進(jìn)行掃描這是它的核心工作，整個(gè)掃描過程稱之為一個(gè)運(yùn)算周期如下圖所示。首先執(zhí)行對(duì)輸入信號(hào)X的檢測(cè)，然后...
我國(guó)輕型汽車污染物排放限值及測(cè)量方法（國(guó)六階段）中車載診斷系統(tǒng)（以下簡(jiǎn)稱OBD系統(tǒng)）章節(jié)規(guī)定，輕型汽車生產(chǎn)企業(yè)使用標(biāo)準(zhǔn)診斷連接串行接口，獲取所有與排放相...
差示掃描量熱儀的特點(diǎn)及其他特殊應(yīng)用形式的介紹
差示掃描量熱儀是一臺(tái)較大型的差示掃描量熱儀（DSC）。測(cè)量的是與材料內(nèi)部熱轉(zhuǎn)變相關(guān)的溫度、熱流的關(guān)系。
雷達(dá)主要戰(zhàn)術(shù)、技術(shù)參數(shù)
雷達(dá)戰(zhàn)術(shù)性能，雷達(dá)在作戰(zhàn)使用方面的特性和功能。一般包括距離、方位角和高低角(俯仰角)的工作范圍、波長(zhǎng)、掃描速度、顯示方式、能夠測(cè)定的目標(biāo)數(shù)目、測(cè)定每個(gè)坐...
具有已定義端點(diǎn)的線性斜坡 - （通常稱為斜坡FSK）。用戶能夠編程開始和結(jié)束頻率。然后，用戶可以指定增量頻率和增加頻率的速率。在達(dá)到終止頻率時(shí)，設(shè)備可以...
全自動(dòng)電能表封印二維碼雕刻掃描裝置的原理及設(shè)計(jì)
今天為大家介紹一項(xiàng)國(guó)家發(fā)明授權(quán)專利——一種全自動(dòng)電能表封印二維碼雕刻掃描裝置。該專利由國(guó)網(wǎng)上海市電力公司申請(qǐng)，并于2018年11月6日獲得授權(quán)公告。
由于光電探測(cè)器的光敏面尺寸很小，導(dǎo)致光電系統(tǒng)的瞬時(shí)視場(chǎng)一般難以滿足對(duì)大空間范圍成像的要求。在許多光電系統(tǒng)中，都采用光學(xué)機(jī)械掃描的方法來實(shí)現(xiàn)大空間區(qū)域的目...
通常我們?cè)谠O(shè)計(jì)芯片的同時(shí)，可以根據(jù)芯片本身的特征，額外地把可測(cè)性電路設(shè)計(jì)(Design For Testability)在芯片里。談到可測(cè)性的電路設(shè)計(jì)，...
2011-06-10 標(biāo)簽：電路設(shè)計(jì)掃描 2400 0
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