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標簽 > 白光干涉儀
干涉儀是一種對光在兩個不同表面反射后形成的干涉條紋進行分析的儀器。其基本原理就是通過不同光學(xué)元件形成參考光路和檢測光路。
干涉儀是一種對光在兩個不同表面反射后形成的干涉條紋進行分析的儀器。其基本原理就是通過不同光學(xué)元件形成參考光路和檢測光路。
光的干涉是指從目標對象表面到某點的光距(光路)產(chǎn)生偏差時,所發(fā)生的現(xiàn)象。利用這種現(xiàn)象測量目標對象表面凹凸的就是光學(xué)干涉儀。右圖是干涉應(yīng)變計的結(jié)構(gòu)圖。從光源(半導(dǎo)體激光等)發(fā)出的光有一些透過分光鏡到達參考面上,其余被反射到樣本表面。透過的光經(jīng)參考面反射通過光接收元件即CCD元件成像。其余被反射的光經(jīng)目標對象表面反射透過分光鏡,同樣通過光接收元件即CCD元件成像。
3D白光干涉輪廓儀 WLI-1000提供了強?、多功能的?接觸式光學(xué)表?分析。它可以簡單和快速地測量各種表?類型,包括光滑、粗糙、平坦、傾斜和階梯式的表?。
2024-08-10 標簽:測量系統(tǒng)圖像輪廓三維掃描儀 466 0
在納米顯微測量領(lǐng)域,中圖儀器基于納米傳動與掃描技術(shù)、白光干涉與高精度3D重建技術(shù)、共聚焦測量等技術(shù)積累,推出了具有自主知識產(chǎn)權(quán)的白光干涉儀(Z向分辨率可...
微觀特征輪廓尺寸測量:光學(xué)3D輪廓儀、共焦顯微鏡與臺階儀的應(yīng)用
顯微測量儀器被用于微觀尺寸的測量,其中包括光學(xué)3D表面輪廓儀(白光干涉儀)、共聚焦顯微鏡和臺階儀。有效評估材料表面的微觀結(jié)構(gòu)和形貌,從而指導(dǎo)生產(chǎn)過程、優(yōu)...
優(yōu)可測白光干涉儀在光學(xué)鏡片領(lǐng)域的應(yīng)用
隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展,光學(xué)鏡片廣泛應(yīng)用于人們的日常生活。提高光學(xué)鏡片的產(chǎn)品質(zhì)量與性能對提升現(xiàn)代光學(xué)產(chǎn)業(yè)的競爭力起著至關(guān)重要的作用,而要提高光學(xué)鏡片的產(chǎn)品質(zhì)...
白光干涉儀(光學(xué)輪廓儀):揭秘測量坑的形貌的利器!
SuperViewW1白光干涉儀結(jié)合數(shù)字圖像處理技術(shù)和三維重建算法來提高測量的精度和效率,揭秘并測量坑的形貌,為科學(xué)研究和工程實踐提供更有力的支持。
就 ” 白光 -干涉- 高度” 三個內(nèi)容, 小優(yōu)博士帶大家一起了解白光干涉儀是如何獲得高度。 ? 一、什么是白光? 可見光波長范圍390nm - 780...
2023-05-11 標簽:白光干涉儀 838 0
光譜分光型白光干涉儀結(jié)構(gòu)原理及應(yīng)用
光源是超輻射發(fā)光二極管(SLD),從光源發(fā)出的光進入光纖耦合器,從耦合器輸出的光經(jīng)消色差準直器準直成平行光,使用分光棱鏡將準直光分為參考光和樣品光。
激光干涉儀的原理是什么 白光干涉儀和激光干涉儀有何區(qū)別
根據(jù)激光干涉儀的原理,我們可以清楚知道,激光干涉儀是用來檢測設(shè)備的運動精度的,SJ6000激光干涉儀目前在機床、直線電機、滑臺、模組、自動化設(shè)備、機器人...
白光干涉儀測量原理及干涉測量技術(shù)的應(yīng)用
白光干涉儀利用干涉原理測光程差,測物理量,具高精度。應(yīng)用于半導(dǎo)體、光學(xué)加工、汽車零部件制造及科研等領(lǐng)域,雙重防撞保護保障測量安全。
優(yōu)可測白光干涉儀:助力手機玻璃蓋板品質(zhì)提升 | 行業(yè)應(yīng)用
手機蓋板材料從塑料、金屬到玻璃/陶瓷,再到納米紋理玻璃,不斷革新以滿足消費者需求。其中,影響手機玻璃蓋板關(guān)鍵因素包括蝕刻深度、角度、粒子統(tǒng)計、粗糙度等。...
從“制造”到“智造”:中圖光學(xué)測量儀器的進階與應(yīng)用
在當今全球化和科技快速發(fā)展的時代,制造業(yè)正經(jīng)歷著從傳統(tǒng)的“制造”模式向智能化的“智造”模式的深刻轉(zhuǎn)變。消費者對產(chǎn)品質(zhì)量和個性化的要求越來越高,產(chǎn)品的更新...
優(yōu)可測白光干涉儀:激光陀螺儀提升良率與精度的關(guān)鍵
激光陀螺儀廣泛應(yīng)用于航空航天、軍事防御、海洋勘探、自動駕駛等領(lǐng)域,其高靈敏度、強抗干擾和可靠性源于精密制造技術(shù)。優(yōu)可測白光干涉儀助力激光陀螺儀鏡片精度提...
優(yōu)可測白光干涉儀助力紅外探測行業(yè)發(fā)展——晶圓襯底檢測
晶圓襯底的質(zhì)量對紅外探測器芯片性能至關(guān)重要,優(yōu)可測白光干涉儀可以高精度測量晶圓襯底的亞納米級粗糙度、納米級臺階、整體平面度、微觀三維形貌等。
文章介紹了白光干涉儀的Z軸垂直精度和XY橫向精度的相關(guān)概念,包括垂直分辨率、RMS重復(fù)性、臺階重復(fù)性等,以及影響精度的因素,并強調(diào)使用環(huán)境的穩(wěn)定性對精度...
在精密測量領(lǐng)域,激光共聚焦顯微鏡和白光干涉儀是兩種不同的高精度光學(xué)測量儀器。它們各自有著獨特的應(yīng)用優(yōu)勢和應(yīng)用場景。選擇哪種儀器更好,取決于具體的測量需求...
提高競爭力!創(chuàng)新助力新質(zhì)生產(chǎn)力!中圖儀器補齊國產(chǎn)精密測量短板
新質(zhì)生產(chǎn)力是科技進步和生產(chǎn)方式變革下的新型生產(chǎn)力形態(tài),強調(diào)智能化、靈活化、個性化和高質(zhì)量化。中圖儀器通過自主研發(fā)高精度測量儀器和激光跟蹤儀,推動制造業(yè)生...
優(yōu)可測響應(yīng)“以舊換新”行動方案,加速“高端、智能、綠色”儀器設(shè)備更新迭代
日前,國務(wù)院印發(fā)的《推動大規(guī)模設(shè)備更新和消費品以舊換新行動方案》(以下簡稱《行動方案》)對外發(fā)布。在此,優(yōu)可測響應(yīng)“以舊換新”《行動方案》,加速“高端、...
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