從外觀到參數(shù),芯片失效的檢測方法

眾所周知，芯片作為智能設(shè)備的“心臟”，承載核心功能；其設(shè)計(jì)復(fù)雜度與集成度提升，加之應(yīng)用環(huán)境多樣化，致失效問題凸顯，或?qū)⒊蔀閼?yīng)用工程師設(shè)計(jì)周期內(nèi)的重大挑戰(zhàn)...

2024-12-09 標(biāo)簽：芯片SEM失效分析 755 0

鈦合金微觀結(jié)構(gòu)表征：EBSD制樣技術(shù)的應(yīng)用與經(jīng)驗(yàn)分析

EBSD技術(shù)的進(jìn)步電子背散射衍射技術(shù)（EBSD）在材料科學(xué)領(lǐng)域扮演著越來越重要的角色。它允許科學(xué)家在掃描電子顯微鏡（SEM）下進(jìn)行顯微形貌、成分和晶體取...

2024-12-20 標(biāo)簽：SEM顯微鏡 58 0

什么是PCB的CAF效應(yīng)？

導(dǎo)電陽極絲（CAF）現(xiàn)象及其影響在高科技電子產(chǎn)品制造中，尤其是在對環(huán)境適應(yīng)性要求極高的汽車電子和軍工領(lǐng)域，產(chǎn)品的耐高溫和高濕性能顯得尤為重要。隨著電子產(chǎn)...

2024-12-14 標(biāo)簽：pcbSEMCAF 158 0

電子背散射衍射技術(shù)（EBSD）：原理、測試方法與應(yīng)用領(lǐng)域

電子背散射衍射電子背散射衍射技術(shù)（EBSD），作為一種尖端的材料分析手段，融合了掃描電子顯微鏡（SEM）的精細(xì)成像與電子衍射的晶體學(xué)分析技術(shù)。電子束與樣...

2024-12-02 標(biāo)簽：探測器SEM顯微鏡 152 0

三維電子背散射衍射(EBSD)技術(shù)：FIB-SEM與EBSD的結(jié)合應(yīng)用案例

三維電子背散射衍射技術(shù)（3D-EBSD）在材料科學(xué)領(lǐng)域，對材料的微觀結(jié)構(gòu)進(jìn)行精確分析是至關(guān)重要的。傳統(tǒng)的電子背散射衍射（EBSD）技術(shù)主要提供樣品表面的...

2024-11-29 標(biāo)簽：SEMfib三維電子 184 0

FIB-SEM方法分析BlackPad的優(yōu)缺點(diǎn)

BlackPad簡介目前以ENIG為表面處理方式所占比例較大，ENIG金屬Ni層以NiP成分為主，在生產(chǎn)中易發(fā)生鎳腐蝕（后面稱blackpad）。退金后...

2024-11-29 標(biāo)簽：SEMfib電鏡 191 0

FIB技術(shù)應(yīng)用領(lǐng)域及工作原理解析

集成化微納加工平臺雙束聚焦離子束-掃描電子顯微鏡（FIB-SEM）系統(tǒng)代表了微納加工技術(shù)的前沿，它巧妙地融合了單束FIB和SEM的優(yōu)勢，為用戶提供了一個(gè)...

2024-11-27 標(biāo)簽：SEM顯微鏡fib 168 0

聚焦離子束掃描電鏡（FIB-SEM）技術(shù)原理、樣品制備要點(diǎn)及常見問題解答

納米級材料分析的革命性技術(shù)在現(xiàn)代科學(xué)研究和工程技術(shù)中，對材料的微觀結(jié)構(gòu)和性質(zhì)的深入理解是至關(guān)重要的。聚焦離子束掃描電子顯微鏡（FIB-SEM）技術(shù)應(yīng)運(yùn)而...

2024-11-23 標(biāo)簽：SEMfib電鏡 298 0

場發(fā)射掃描電鏡（FESEM）與常規(guī)掃描電鏡（SEM）：技術(shù)對比及優(yōu)勢分析

場發(fā)射掃描電鏡與SEM的比較及優(yōu)勢在微觀世界的研究中，掃描電鏡（SEM）一直是科學(xué)家們探索材料表面和內(nèi)部結(jié)構(gòu)的重要工具。隨著技術(shù)的進(jìn)步，場發(fā)射掃描電鏡（...

2024-11-21 標(biāo)簽：測試SEM掃描電鏡 300 0

什么是掃描電鏡（SEM）？

掃描電子顯微鏡（SEM）掃描電子顯微鏡（SEM）是現(xiàn)代科學(xué)探索微觀世界的一把關(guān)鍵鑰匙。它通過高分辨率的電子成像技術(shù)，使我們能夠洞察物質(zhì)的微觀構(gòu)造，從而在...

2024-11-20 標(biāo)簽：SEM顯微鏡掃描電鏡 288 0

石油地質(zhì)領(lǐng)域中氬離子拋光儀的技術(shù)應(yīng)用

石油勘探的微觀世界在石油勘探領(lǐng)域，掃描電子顯微鏡（SEM）是不可或缺的分析工具。它能夠揭示沉積巖中的微觀結(jié)構(gòu)，包括有機(jī)質(zhì)、粘土礦物、鈣質(zhì)超微化石以及儲集...

2024-12-18 標(biāo)簽：SEM顯微鏡拋光機(jī) 52 0

雙束系統(tǒng)（FIB-SEM）在微電子行業(yè)的應(yīng)用探索

微電子技術(shù)的全能利器FIB-SEM雙束系統(tǒng)結(jié)合了聚焦離子束（FIB）與掃描電子顯微鏡（SEM）的雙重功能，代表了高端技術(shù)裝備的最新發(fā)展。該系統(tǒng)將電子束的...

2024-12-14 標(biāo)簽：SEM微電子fib 119 0

快充過程析鋰、SEI生長和電解液分解耦合機(jī)制的定量分析

? ? ?全文速覽 本研究綜合運(yùn)用了動態(tài)電化學(xué)阻抗譜（DEIS）、質(zhì)譜滴定（MST）、核磁共振（NMR）以及氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用（GC-MS）等技術(shù)，對L...

2024-12-10 標(biāo)簽：SEM電解液快充 212 0

氬離子拋光技術(shù)：頁巖電鏡樣品制備的高效解決方案

氬離子拋光技術(shù)：頁巖樣品制備頁巖，這種由高嶺石、水云母等黏土礦物經(jīng)脫水膠結(jié)形成的沉積巖，以其層狀結(jié)構(gòu)而著稱。按成分差異，頁巖可被劃分為炭質(zhì)、鈣質(zhì)、砂質(zhì)和...

2024-11-04 標(biāo)簽：機(jī)械SEM電鏡 162 0

石油地質(zhì)領(lǐng)域中的氬離子拋光儀：技術(shù)應(yīng)用與效果分析

在石油地質(zhì)學(xué)領(lǐng)域，掃描電子顯微鏡（SEM）扮演著核心角色，它被廣泛用于分析沉積巖中的有機(jī)質(zhì)來源、探究粘土礦物特性、觀察鈣質(zhì)超微化石以及評估儲集巖的性能。...

2024-11-01 標(biāo)簽：SEM電子顯微鏡石油 161 0

微電子制造中的FIB-SEM雙束系統(tǒng)：技術(shù)應(yīng)用與進(jìn)展

在微電子行業(yè)重要性在微電子行業(yè)中，F(xiàn)IB-SEM雙束系統(tǒng)的應(yīng)用至關(guān)重要，它不僅涵蓋了芯片樣品的精密切割，還包括對工藝缺陷的深入分析和器件結(jié)構(gòu)的細(xì)致表征。...

2024-10-31 標(biāo)簽：SEM微電子微電子制造 336 0

蔡司X射線顯微CT和SEM電鏡檢測燃料電池材料

燃料電池的商業(yè)化應(yīng)用具有廣闊的發(fā)展前景。目前的研究熱點(diǎn)及重點(diǎn)：高效催化劑的研發(fā)關(guān)鍵組件結(jié)構(gòu)的優(yōu)化三相界面的構(gòu)效關(guān)系蔡司君從顯微表征角度對以上三個(gè)關(guān)鍵科學(xué)...

2024-09-04 標(biāo)簽：SEM電鏡掃描電鏡 291 0

FIB常見應(yīng)用明細(xì)及原理分析

共讀好書 系統(tǒng)及原理 ? 雙束聚焦離子束系統(tǒng)可簡單地理解為是單束聚焦離子束和普通SEM之間的耦合。 單束聚焦離子束系統(tǒng)包括離子源，離子光學(xué)柱，束描畫系統(tǒng)...

2024-07-24 標(biāo)簽：SEMfibEDS 583 0

SEM掃描電鏡顯微鏡結(jié)合AI技術(shù)助力醫(yī)療器械提升效率

Smith+Nephew(施樂輝)是一家專注于骨骼和組織重建、傷口愈合和關(guān)節(jié)置換領(lǐng)域的醫(yī)療技術(shù)集團(tuán)。該公司所銷售的涂層關(guān)節(jié)假體在瑞士Aarau生產(chǎn)基地生...

2024-06-18 標(biāo)簽：SEM顯微鏡掃描電鏡 459 0

利用貝塞爾光束、超短雙脈沖激光和選擇性化學(xué)蝕刻研究玻璃通孔(TGV)

引言 玻璃可以用低成本的工藝減薄。因?yàn)樗峭该鞯?，所以比Si插入物更容易對準(zhǔn)。此外，玻璃的熱膨脹系數(shù)（CTE）是可調(diào)的。因此，它可以與器件層的CTE匹配...

2024-04-28 標(biāo)簽：激光SEM通孔 1548 0