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邊界掃描-Boundary Scan技術及其在芯片測試中的應用
首先我們都知道***BSCAN***是一種用于測試和驗證集成電路的技術。在集成電路中,有許多引腳***(pins)*** 用于與其他器件進行通信和連接。
是否需要補插scan chain的isolation cell?怎么插呢?
當然最顯而易見的辦法就是vclp檢查哪兒需要補插isolation cell,那么是否需要補插scan chain的isolation cell, 怎么插呢?
子查詢(Subquery)的優(yōu)化一直以來都是 SQL 查詢優(yōu)化中的難點之一。關聯(lián)子查詢的基本執(zhí)行方式類似于 Nested-Loop,但是這種執(zhí)行方式的效...
MCU芯片設計添加mbist、scan chain之后仿真失敗如何解決
由于增加了大量的mux來完成時鐘、復位可控,導致中端網(wǎng)標中的cell有工藝庫文件指定的delay參數(shù),默認是1ns,那么會造成clk delay,比如插...
類別:數(shù)值算法/人工智能 2017-12-19 標簽:MapReduceSCAN 828 0
今天這期小編將繼續(xù)與大家一起學習DFT的相關知識和流程代碼,在開始之前,先解決一下上期DFT學習的章節(jié)最后留下的問題—DFT工程師在收斂時序timing...
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