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RCD吸收電路的影響和設(shè)計(jì)方法(定性分析)

2009年11月21日 11:10 本站原創(chuàng) 作者:佚名 用戶評(píng)論(0
關(guān)鍵字:RCD吸收電路(7326)
RCD吸收電路的影響和設(shè)計(jì)方法(定性分析)

這回主要介紹RCD電路的影響。


先分析過(guò)程:

對(duì)應(yīng)電路模型:


我們可以定性的分析一下電路參數(shù)的選擇對(duì)電路的暫態(tài)響應(yīng)的影響:
1.RCD電容C偏大
電容端電壓上升很慢,因此導(dǎo)致mos 管電壓上升較慢,導(dǎo)致mos管關(guān)斷至次級(jí)導(dǎo)通的間隔時(shí)間過(guò)長(zhǎng),變壓器能量傳遞過(guò)程較慢,相當(dāng)一部分初級(jí)勵(lì)磁電感能量消耗在RC電路上 。
波形分析為:
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2.RCD電容C特別大(導(dǎo)致電壓無(wú)法上升至次級(jí)反射電壓)
電容電壓很小,電壓峰值小于次級(jí)的反射電壓,因此次級(jí)不能導(dǎo)通,導(dǎo)致初級(jí)能量全部消耗在RCD電路中的電阻上,因此次級(jí)電壓下降后達(dá)成新的平衡,理論計(jì)算無(wú)效了,輸出電壓降低。
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3.RCD電阻電容乘積R×C偏小
電壓上沖后,電容上儲(chǔ)存的能量很小,因此電壓很快下降至次級(jí)反射電壓,電阻將消耗初級(jí)勵(lì)磁電感能量,直至mos管開(kāi)通后,電阻才緩慢釋放電容能量,由于RC較小,因此可能出現(xiàn)震蕩,就像沒(méi)有加RCD電路一樣。
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4.RCD電阻電容乘積R×C合理,C偏小
如果參數(shù)選擇合理,mos管開(kāi)通前,電容上的電壓接近次級(jí)反射電壓,此時(shí)電容能量泄放完畢,缺點(diǎn)是此時(shí)電壓尖峰比較高,電容和mos管應(yīng)力都很大
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5.RCD電阻電容乘積R×C合理,R,C都合適
在上面的情況下,加大電容,可以降低電壓峰值,調(diào)節(jié)電阻后,使mos管開(kāi)通之前,電容始終在釋放能量,與上面的最大不同,還是在于讓電容始終存有一定的能量。

以上均為定性分析,實(shí)際計(jì)算還是單獨(dú)探討后整理,需要做仿真驗(yàn)證。
明天把上面兩篇博文做一些仿真的分析,如果與上面的分析一致,則開(kāi)始準(zhǔn)備整理計(jì)算方法。

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