基于CMOS工藝的APS圖像傳感器于上世紀(jì)九十年代初得到快速發(fā)展。CMOS圖像傳感器采用超大規(guī)模集成電路的制造工藝,集成度高,克服了 CCD的上述相關(guān)問題,與CCD 相比,具有集成度高、功耗低、可靠性高、耐輻照能力強等優(yōu)點。
隨著CMOS工藝的成熟和技術(shù)的不斷發(fā)展,APS圖像傳感器正在逐漸克服以往光照靈敏度、信噪比等方面的局限,現(xiàn)階段APS器件在很多性能方面已同CCD旗鼓相當(dāng)。
APS星敏感器是未來星敏感器的發(fā)展趨勢。具有體積小、重量輕、功耗低、精度高的特點,彌補了我國目前主流的CCD星敏感器存在的體積重量大、功耗較高等不足,是未來幾年國內(nèi)外的發(fā)展趨勢。
由于CMOS技術(shù)工藝以及有源像元的結(jié)構(gòu)特點,APS圖像傳感器的工作原理、操作和讀取方式、噪聲種類等與CCD有較大區(qū)別,其在星敏感器等空間應(yīng)用方面尚存在較多有待研究的問題,突出表現(xiàn)在其探測靈敏度偏低。
由于APS圖像傳感器的像素內(nèi)部集成放大電路,降低了填充因子,因此APS固有像素結(jié)構(gòu)特點決定了其存在相比CCD的靈敏度偏低問題。
靈敏度是星敏感器重要指標(biāo),表征其視場內(nèi)能夠探測到最暗星的能力,是保證星敏感器功能、姿態(tài)輸出精度和捕獲概率等性能指標(biāo)的基礎(chǔ)及前提。高靈敏度APS電路是APS星敏感器中的關(guān)鍵技術(shù),是實現(xiàn)高精度、高數(shù)據(jù)更新率的重要保證。
影響APS星敏感器探測靈敏度的因素
(1) 光學(xué)系統(tǒng)的影響。探測靈敏度與光學(xué)鏡頭透過率,光學(xué)系統(tǒng)孔徑,以及星點像光斑能量集中程度有關(guān)。由于設(shè)計一般要求F‘# = f/D一定,光學(xué)系統(tǒng)的孔徑的增大,同時要求焦距增長,這會增加系統(tǒng)的重量,而單獨增加D 會給光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計帶來困難,該項指標(biāo)受星敏感器總體設(shè)計和光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計的限制。而星點像光斑能量集中程度大小受質(zhì)心算法的限制,一般不能超過0.5。
?。?) APS 的參數(shù)大小的影響。APS 的量子效率和填充因子越高,APS 的信號電子數(shù)越多,靈敏度越高。一般APS 的量子效率Qe 為0.3- 0.7,填充因子Km 為0.3- 0.7,也有器件給出的是量子效率和填充因子的積。此外,APS 噪聲水平對靈敏度的影響較大,通過冷卻APS 器件、采用相關(guān)雙采樣技術(shù),和軟件去噪( 比如固定圖像噪聲等) 可以降低噪聲。
(3) 背景輻射對探測靈敏度影響較小,當(dāng)在信號處理中采用閾值處理時,可以把背景噪聲濾掉。
?。?) 信噪比閾值的影響。信噪比閾值取的越大,探測率越高,但探測靈敏度將下降。
?。?) 積分時間。積分時間越長,靈敏度越高。然而積分時間過長,會導(dǎo)致系統(tǒng)更新速度的下降,而且會出現(xiàn)圖像的拖尾,降低圖像質(zhì)心的精度而影響測量精度。
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