AEC-Q101標(biāo)準(zhǔn)是用于分立半導(dǎo)體器件的，標(biāo)準(zhǔn)全稱：Failure Mechanism Based Stress Test Qualification For Discrete Semiconductors，基于分立半導(dǎo)體應(yīng)力測試認(rèn)證的失效機(jī)理，名字有點(diǎn)長，所以一般就叫“分立半導(dǎo)體的應(yīng)力測試標(biāo)準(zhǔn)”?，F(xiàn)在的Rev E版本是2021.03.01剛發(fā)布的最新版。

AEC-Q101認(rèn)證包含了分立半導(dǎo)體元件最低應(yīng)力測試要求的定義和參考測試條件，目的是要確定一種器件在應(yīng)用中能夠通過應(yīng)力測試以及被認(rèn)為能夠提供某種級別的品質(zhì)和可靠性。

AEC-Q101按Wafer Fab晶圓制造技術(shù)，分為以下幾種，主要是MOS、IGBT、二極管、三極管、穩(wěn)壓管、TVS、可控硅等。

AEC-Q101分立半導(dǎo)體器件（來源：aecouncil.com）

根據(jù)AEC-Q101-2021新版規(guī)范，認(rèn)證測試通用項(xiàng)目大大小小算起來共有37項(xiàng)，但并非所有的測試項(xiàng)目都需要測試，需要依據(jù)不同的器件類型，封裝形式，安裝方式等等來選擇要進(jìn)行的測試項(xiàng)目。

AEC-Q101標(biāo)準(zhǔn)將試驗(yàn)項(xiàng)目分為5個大組，以某型號SOT23封裝的MOSFET為例，AECQ101認(rèn)證應(yīng)選擇哪些測試項(xiàng)目和條件，以及不選擇此項(xiàng)目的原因說明，以下是按組介紹需要測試項(xiàng)目的清單。

GroupAGroup A加速環(huán)境應(yīng)力試驗(yàn)共有10個項(xiàng)目，AC高壓和 H3TRB高溫高濕反偏做為可選項(xiàng)可不用進(jìn)行，PTC功率溫度循環(huán)在IOL間隙壽命不能滿足才做，TCDT溫循分層試驗(yàn)和TCHT溫循熱試驗(yàn)不適用在銅線連接的器件上執(zhí)行測試。

GroupB

Group B加速壽命模擬試驗(yàn)共有4個項(xiàng)目，ACBV交流阻斷電壓僅適于晶閘管，SSOP穩(wěn)態(tài)運(yùn)行僅適于TVS二極管。

GroupC

Group C封裝完整性試驗(yàn)15個項(xiàng)目，TS端子強(qiáng)度適用于通孔引線器件的引線完整性，RTS耐溶劑性對于激光蝕刻或無標(biāo)記器件不用進(jìn)行。CA恒定加速,VVF變頻振動，MS機(jī)械沖擊，HER氣密性這四項(xiàng)適用于氣密封裝的器件。

GroupD

Group D模具制造可靠性試驗(yàn)1個項(xiàng)目

GroupE

Group E電氣驗(yàn)證試驗(yàn)6個項(xiàng)目。UIS鉗位感應(yīng)開關(guān)僅限功率 MOS半導(dǎo)體和內(nèi)部箝制IGBT，SC短路特性僅適用于智能功率器件。

AEC-Q101認(rèn)證準(zhǔn)備

AEC-Q101驗(yàn)證流程

華碧實(shí)驗(yàn)室車規(guī)電子檢測認(rèn)證

華碧實(shí)驗(yàn)室是國內(nèi)領(lǐng)先的集檢測、鑒定和認(rèn)證為一體的第三方檢測與分析的新型綜合實(shí)驗(yàn)室，是質(zhì)量和誠信的基準(zhǔn)。華碧實(shí)驗(yàn)室擁有豐富的車規(guī)級電子認(rèn)證經(jīng)驗(yàn)，已成功協(xié)助300多家汽車分立半導(dǎo)體企業(yè)制定相對應(yīng)的AEC-Q101驗(yàn)證步驟與實(shí)驗(yàn)方法，并順利通過AEC-Q系列認(rèn)證。

華碧實(shí)驗(yàn)室憑借廣泛的服務(wù)網(wǎng)絡(luò)，專業(yè)的技術(shù)團(tuán)隊(duì)及先進(jìn)的實(shí)驗(yàn)室，提供全面的半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)解決方案，服務(wù)范圍覆蓋供應(yīng)鏈上下游，幫助分立器件廠商把控良率并順利進(jìn)入車廠供應(yīng)鏈，助力其產(chǎn)品在市場端建立穩(wěn)固的質(zhì)量信任，推動國產(chǎn)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)取得新的技術(shù)突破與穩(wěn)健的持續(xù)性發(fā)展。

審核編輯黃宇