RM新时代网站-首页

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評(píng)論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會(huì)員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

氮化鎵晶圓在劃切過程中如何避免崩邊

西斯特精密加工 ? 2024-10-25 11:25 ? 次閱讀

9月,英飛凌宣布成功開發(fā)出全球首款12英寸(300mm)功率氮化鎵(GaN)晶圓。

12英寸晶圓與8英寸晶圓相比,每片能多生產(chǎn)2.3倍數(shù)量的芯片,技術(shù)和效率顯著提升。這一突破將極大地推動(dòng)氮化鎵功率半導(dǎo)體市場(chǎng)的發(fā)展。

氮化鎵和硅的制造工藝非常相似,12英寸氮化鎵技術(shù)發(fā)展的一大優(yōu)勢(shì)是可以利用現(xiàn)有的12英寸硅晶圓制造設(shè)備。全面規(guī)模化量產(chǎn)12英寸氮化鎵生產(chǎn)將有助于氮化鎵在導(dǎo)通電阻水平上與硅的成本平價(jià),這意味著同類硅和氮化鎵產(chǎn)品的成本持平。

市場(chǎng)情況

GaN最早被用于發(fā)光二極管,GaN材料制作的藍(lán)光、綠光LED以及激光二極管早已實(shí)現(xiàn)了產(chǎn)業(yè)化生產(chǎn),日本和美國(guó)的三位科學(xué)家還因此獲得了2014年諾貝爾化學(xué)獎(jiǎng)。到目前為止,光電領(lǐng)域依然是GaN的傳統(tǒng)強(qiáng)項(xiàng)。

據(jù)最新統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)顯示,2023年全球GaN功率元件市場(chǎng)規(guī)模約2.71億美元,至2030年有望上升至43.76億美元,CAGR(復(fù)合年增長(zhǎng)率)高達(dá)49%。其中非消費(fèi)類應(yīng)用比例預(yù)計(jì)會(huì)從2023年的23%上升至2030年的48%,汽車、數(shù)據(jù)中心電機(jī)驅(qū)動(dòng)等場(chǎng)景為應(yīng)用核心。

cc5525dc-9280-11ef-b5cd-92fbcf53809c.png

氮化鎵晶圓分類

氮化鎵晶圓分單晶襯底和外延片兩種,單晶襯底分無摻雜襯底和(硅/鎂)摻雜襯底。外延片主要有硅基氮化鎵外延片、碳化硅基外延片和藍(lán)寶石基氮化鎵外延片。

1

襯底

無摻雜氮化鎵襯底

常用于高電子遷移率晶體管(HEMT)和激光二極管(LD)等器件。


摻雜氮化鎵襯底

通過摻入特定元素(如硅、鎂)來調(diào)節(jié)材料的電學(xué)性質(zhì)。N型摻硅氮化鎵襯底用于制作高電子遷移率器件;P型摻鎂氮化鎵襯底用于制作LED。

2

外延片

硅基氮化鎵外延片

硅材料成本低、晶圓尺寸大且技術(shù)成熟,易于實(shí)現(xiàn)大規(guī)模生產(chǎn),能夠利用現(xiàn)有的硅基半導(dǎo)體生產(chǎn)線進(jìn)行加工,從而降低生產(chǎn)成本。

硅基氮化鎵外延片在中低壓和高頻應(yīng)用領(lǐng)域具有一定的優(yōu)勢(shì),在消費(fèi)電子領(lǐng)域的快充充電器中應(yīng)用廣泛。

碳化硅基氮化鎵外延片

碳化硅襯底具有良好的熱導(dǎo)率和較高的擊穿電場(chǎng)強(qiáng)度,與氮化鎵的晶格匹配度相對(duì)較高,能夠生長(zhǎng)出高質(zhì)量的氮化鎵外延層,因此制成的器件具有更高的性能和可靠性。

碳化硅基氮化鎵外延片適用于高功率、高頻和高溫等極端工作環(huán)境,在射頻功率放大器、電動(dòng)汽車充電器等對(duì)性能要求較高的領(lǐng)域具有重要應(yīng)用。

碳化硅襯底的制備難度大、成本高,目前主要以 4 英寸和 6 英寸晶圓為主,8 英寸還沒有大規(guī)模應(yīng)用,這限制了其在大規(guī)模生產(chǎn)中的應(yīng)用。

藍(lán)寶石基氮化鎵外延片

藍(lán)寶石襯底具有良好的絕緣性、穩(wěn)定性和透光性,在氮化鎵基發(fā)光二極管(LED)的制造中應(yīng)用廣泛。通過在藍(lán)寶石襯底上生長(zhǎng)氮化鎵外延層,可以制備出高亮度、高效率的藍(lán)光和綠光 LED,是目前主流的 LED 生產(chǎn)技術(shù)之一。

但藍(lán)寶石襯底的硬度高、脆性大,加工難度大,且其熱導(dǎo)率相對(duì)較低,不利于器件的散熱,在高功率應(yīng)用領(lǐng)域受到一定的限制。

氮化鎵晶圓的機(jī)械性能特征

1、硬度高

氮化鎵的硬度較高(稍遜于碳化硅),具有較好的機(jī)械強(qiáng)度和耐磨性,這對(duì)于晶圓的加工和制造過程以及器件的封裝都具有一定的優(yōu)勢(shì)。在晶圓劃切、芯片封裝等工藝過程中,較高的硬度可以減少晶圓的破損和缺陷,提高生產(chǎn)良率。

2、材質(zhì)脆

高硬度的同時(shí)也使得氮化鎵材質(zhì)相對(duì)較脆,在加工和使用過程中需要注意避免受到過大的機(jī)械應(yīng)力,否則容易發(fā)生破裂或損壞。

劃切過程中如何避免出現(xiàn)崩邊

1、選擇精度高、穩(wěn)定性好的劃片機(jī)。

先進(jìn)的劃片機(jī)能夠提供更精確的切割控制,減少機(jī)械振動(dòng)對(duì)晶圓的影響。定期維護(hù)和校準(zhǔn)設(shè)備,保證劃片機(jī)的各個(gè)部件處于良好的工作狀態(tài),及時(shí)更換磨損的部件,以確保切割過程的準(zhǔn)確性和一致性。

2、調(diào)整切割速度。

速度過快會(huì)導(dǎo)致應(yīng)力集中,引發(fā)崩邊。推薦采用分步切割法,減少一次性切割產(chǎn)生的應(yīng)力,降低背崩出現(xiàn)的概率。切割過程中,還應(yīng)注意冷卻液溫度和流速,減少崩邊的產(chǎn)生。

3、在劃切之前,對(duì)晶圓進(jìn)行嚴(yán)格的質(zhì)量檢查。

確保晶圓沒有內(nèi)部缺陷或裂紋。如果晶圓本身存在質(zhì)量問題,劃切過程中更容易出現(xiàn)裂縫。或者對(duì)晶圓進(jìn)行退火預(yù)處理消除內(nèi)部應(yīng)力,提高晶圓穩(wěn)定性。

4、保持工作環(huán)境穩(wěn)定的溫度和濕度。

減少晶圓的變形和應(yīng)力,降低崩邊出現(xiàn)的風(fēng)險(xiǎn)。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • 半導(dǎo)體
    +關(guān)注

    關(guān)注

    334

    文章

    27286

    瀏覽量

    218049
  • 晶圓
    +關(guān)注

    關(guān)注

    52

    文章

    4890

    瀏覽量

    127930
  • 氮化鎵
    +關(guān)注

    關(guān)注

    59

    文章

    1628

    瀏覽量

    116301
  • GaN
    GaN
    +關(guān)注

    關(guān)注

    19

    文章

    1933

    瀏覽量

    73281
收藏 人收藏

    評(píng)論

    相關(guān)推薦

    背面涂敷工藝對(duì)的影響

    一、概述 背面涂敷工藝是背面涂覆一層特定的材料,以滿足封裝過程中的各種需求。這種工藝不
    的頭像 發(fā)表于 12-19 09:54 ?139次閱讀
    <b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圓</b>背面涂敷工藝對(duì)<b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圓</b>的影響

    切割機(jī)氧化鋯材料高精度切中的應(yīng)用

    切割機(jī)氧化鋯切應(yīng)用主要體現(xiàn)在利用切割
    的頭像 發(fā)表于 12-17 17:51 ?136次閱讀
    <b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圓</b>切割機(jī)<b class='flag-5'>在</b>氧化鋯材料高精度<b class='flag-5'>劃</b>切中的應(yīng)用

    英飛凌全新一代氮化產(chǎn)品重磅發(fā)布,電壓覆蓋700V!

    呈現(xiàn)出爆發(fā)式增長(zhǎng)態(tài)勢(shì)。英飛凌長(zhǎng)期深耕氮化領(lǐng)域,再次推動(dòng)了氮化革命,率先成功開發(fā)出了全球首個(gè)300mm氮化
    的頭像 發(fā)表于 12-06 01:02 ?394次閱讀
    英飛凌全新一代<b class='flag-5'>氮化</b><b class='flag-5'>鎵</b>產(chǎn)品重磅發(fā)布,電壓覆蓋700V!

    封裝過程缺陷解析

    半導(dǎo)體制造流程,測(cè)試是確保產(chǎn)品質(zhì)量和性能的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。與此同時(shí)封裝過程中的缺陷對(duì)半導(dǎo)體器件的性能和可靠性具有重要影響,本文就上述兩個(gè)方
    的頭像 發(fā)表于 11-04 14:01 ?207次閱讀
    <b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圓</b>封裝<b class='flag-5'>過程</b>缺陷解析

    功率氮化進(jìn)入12英寸時(shí)代!

    等第三代半導(dǎo)體而言,它們還有提升空間。 ? 就在9月11日,英飛凌宣布率先開發(fā)出全球首項(xiàng)300 mm(12英寸)氮化功率半導(dǎo)體技術(shù),英飛凌也成為了全球首家
    的頭像 發(fā)表于 09-23 07:53 ?2769次閱讀

    德州儀器將提供更具價(jià)格競(jìng)爭(zhēng)力的氮化芯片

    德州儀器正在將其多個(gè)工廠的氮化(GaN)芯片生產(chǎn)從6英寸轉(zhuǎn)換為8英寸。模擬芯片公司正在
    的頭像 發(fā)表于 03-20 09:11 ?647次閱讀
    德州儀器將提供更具價(jià)格競(jìng)爭(zhēng)力的<b class='flag-5'>氮化</b><b class='flag-5'>鎵</b>芯片

    TC WAFER 測(cè)溫系統(tǒng) 儀表化溫度測(cè)量

    “TC WAFER 測(cè)溫系統(tǒng)”似乎是一種用于測(cè)量(半導(dǎo)體制造的基礎(chǔ)材料)溫度的系統(tǒng)。
    的頭像 發(fā)表于 03-08 17:58 ?1016次閱讀
    TC WAFER   <b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圓</b>測(cè)溫系統(tǒng) 儀表化<b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圓</b>溫度測(cè)量

    PFA夾在半導(dǎo)體芯片制造過程中的應(yīng)用

    隨著半導(dǎo)體技術(shù)的不斷進(jìn)步,制造作為集成電路產(chǎn)業(yè)的核心環(huán)節(jié),對(duì)生產(chǎn)過程的精密性和潔凈度要求日益提高。眾多晶制造工具
    的頭像 發(fā)表于 02-23 15:21 ?967次閱讀

    氮化是什么充電器類型

    氮化不是充電器類型,而是一種化合物。 氮化(GaN)是一種重要的半導(dǎo)體材料,具有優(yōu)異的電學(xué)和光學(xué)特性。近年來,氮化
    的頭像 發(fā)表于 01-10 10:20 ?947次閱讀

    氮化是什么結(jié)構(gòu)的材料

    的結(jié)構(gòu)通常采用六方晶系,屬于閃鋅礦型結(jié)構(gòu)。氮化晶體,原子和氮原子交替排列,形成緊密堆積的晶格結(jié)構(gòu)。
    的頭像 發(fā)表于 01-10 10:18 ?3318次閱讀

    氮化芯片研發(fā)過程

    氮化芯片(GaN芯片)是一種新型的半導(dǎo)體材料,目前的電子設(shè)備逐漸得到應(yīng)用。它以其優(yōu)異的性能和特點(diǎn)備受研究人員的關(guān)注和追捧。現(xiàn)代科技的
    的頭像 發(fā)表于 01-10 10:11 ?1037次閱讀

    氮化是什么晶體類型

    氮化的晶體結(jié)構(gòu)。氮化的晶體結(jié)構(gòu)屬于六方晶系,也被稱為wurtzite結(jié)構(gòu)。氮化
    的頭像 發(fā)表于 01-10 10:03 ?3814次閱讀

    氮化mos管型號(hào)有哪些

    氮化(GaN)MOS管,是一種基于氮化材料制造的金屬氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管(MOSFET)。由于氮化
    的頭像 發(fā)表于 01-10 09:32 ?2221次閱讀

    氮化mos管驅(qū)動(dòng)方法

    MOS管的驅(qū)動(dòng)原理、驅(qū)動(dòng)電路設(shè)計(jì)和驅(qū)動(dòng)方式選擇等方面的內(nèi)容。 驅(qū)動(dòng)原理 氮化MOS管的驅(qū)動(dòng)原理主要包括充電過程、放電過程和電流平衡過程三個(gè)
    的頭像 發(fā)表于 01-10 09:29 ?2790次閱讀

    氮化功率器件結(jié)構(gòu)和原理

    氮化功率器件是一種新型的高頻高功率微波器件,具有廣闊的應(yīng)用前景。本文將詳細(xì)介紹氮化功率器件的結(jié)構(gòu)和原理。 一、氮化
    的頭像 發(fā)表于 01-09 18:06 ?3179次閱讀
    RM新时代网站-首页