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電子發(fā)燒友網(wǎng)>今日頭條>LED光源黑化失效分析路線圖失效分析

LED光源黑化失效分析路線圖失效分析

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聚焦離子束與芯片失效分析與運(yùn)用

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第20講:DIPIPM?市場失效分析(2)

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2023-09-28 11:42:21399

嵌入式Linux_Android的學(xué)習(xí)路線圖

嵌入式Linux_Android學(xué)習(xí)路線圖
2023-09-27 06:09:05

半導(dǎo)體器件擊穿原理和失效機(jī)制詳解

在日常的電源設(shè)計(jì)中,半導(dǎo)體開關(guān)器件的雪崩能力、VDS電壓降額設(shè)計(jì)是工程師不得不面對的問題,本文旨在分析半導(dǎo)體器件擊穿原理、失效機(jī)制,以及在設(shè)計(jì)應(yīng)用中注意事項(xiàng)。
2023-09-19 11:44:382588

滾動軸承的失效原因及措施

滾動軸承的可靠性與滾動軸承的失效形式有著密切的關(guān)系,要提高軸承的可靠性,就必須從軸承的失效形式著手,仔細(xì)分析滾動軸承的失效原因,才能找出解決失效的具體措施。今天我們通過PPT來了解一下軸承失效。
2023-09-15 11:28:51212

各種材料失效分析檢測方法

失效分析是一門發(fā)展中的新興學(xué)科,近年開始從軍工向普通企業(yè)普及,它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗(yàn)證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機(jī)理的活動。在提高產(chǎn)品質(zhì)量,技術(shù)開發(fā)、改進(jìn),產(chǎn)品修復(fù)及仲裁失效事故等方面具有很強(qiáng)的實(shí)際意義。
2023-09-12 09:51:47291

使您的云安全路線圖靈活、敏捷且用戶友好的五個(gè)技巧

電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《使您的云安全路線圖靈活、敏捷且用戶友好的五個(gè)技巧.pdf》資料免費(fèi)下載
2023-09-07 10:18:580

集成電路為什么要做失效分析?失效分析流程?

失效分析(FA)是根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗(yàn)證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機(jī)理的活動。
2023-09-06 10:28:051331

集成電路失效分析

集成電路失效分析 隨著現(xiàn)代社會的快速發(fā)展,人們對集成電路(Integrated Circuit,簡稱IC)的需求越來越大,IC在各種電子設(shè)備中占據(jù)著至關(guān)重要的地位,如手機(jī)、電腦、汽車等都需要使用到
2023-08-29 16:35:13627

肖特基二極管失效機(jī)理

肖特基二極管失效機(jī)理? 肖特基二極管(Schottky Barrier Diode, SBD)作為一種快速開關(guān)元件,在電子設(shè)備中得到了廣泛的應(yīng)用。但是,隨著SBD所承受的工作壓力和工作溫度不斷升高
2023-08-29 16:35:08971

芯片失效分析方法 芯片失效原因分析

芯片失效分析方法 芯片失效原因分析? 隨著電子制造技術(shù)的發(fā)展,各種芯片被廣泛應(yīng)用于各種工業(yè)生產(chǎn)和家庭電器中。然而,在使用過程中,芯片的失效是非常常見的問題。芯片失效分析是解決這個(gè)問題的關(guān)鍵。 芯片
2023-08-29 16:29:112800

半導(dǎo)體失效分析

半導(dǎo)體失效分析? 半導(dǎo)體失效分析——保障電子設(shè)備可靠性的重要一環(huán) 隨著電子科技的不斷發(fā)展,電子設(shè)備已成為人們生活和工作不可或缺的一部分,而半導(dǎo)體也是電子設(shè)備中最基本的組成部分之一。其作用是將電能轉(zhuǎn)化
2023-08-29 16:29:08736

電子元器件損壞的原因有哪些?電子芯片故障原因有哪些?常見的電子元器件失效機(jī)理與分析

電子元器件的主要失效模式包括但不限于開路、短路、燒毀、爆炸、漏電、功能失效、電參數(shù)漂移、非穩(wěn)定失效等。對于硬件工程師來講電子元器件失效是個(gè)非常麻煩的事情,比如某個(gè)半導(dǎo)體器件外表完好但實(shí)際上已經(jīng)半失效
2023-08-29 10:47:313729

鉭電容失效分析 鉭電容失效原因分析 鉭電容燒壞的幾種原因 ;我需要詳盡、詳實(shí)、細(xì)致的最少1500字的文

鉭電容失效分析 鉭電容失效原因分析 鉭電容燒壞的幾種原因 鉭電容是一種電子元器件,通常用于將電場儲存為電荷的裝置。它們具有高電容和低ESR等優(yōu)點(diǎn),因此被廣泛應(yīng)用于數(shù)字電路、模擬電路和電源等領(lǐng)域。然而
2023-08-25 14:27:562133

電阻失效發(fā)生的機(jī)理是什么 引起電阻失效的原因有哪些

電阻膜腐蝕造成電阻失效的發(fā)生機(jī)理為:外部水汽通過表面樹脂保護(hù)層浸入到電阻膜層,在內(nèi)部電場作用下,發(fā)生水解反應(yīng)。電阻膜表面殘留的K離子、Na離子極易溶于水,加速了電阻膜的水解反應(yīng),致使電阻膜腐蝕失效
2023-08-18 11:41:371102

請問安路器件失效率為多少?

安路器件失效率為多少
2023-08-11 09:49:12

半導(dǎo)體器件鍵合失效模式及機(jī)理分析

本文通過對典型案例的介紹,分析了鍵合工藝不當(dāng),以及器件封裝因素對器件鍵合失效造成的影響。通過對鍵合工藝參數(shù)以及封裝環(huán)境因素影響的分析,以及對各種失效模式總結(jié),闡述了鍵合工藝不當(dāng)及封裝不良,造成鍵合本質(zhì)失效的機(jī)理;并提出了控制有缺陷器件裝機(jī)使用的措施。
2023-07-26 11:23:15930

LED驅(qū)動電路圖分享 LED驅(qū)動電路的工作原理和失效機(jī)理分析

隨著市場需求的不斷增加,近年從事LED制造和研發(fā)的人員大大增加。LED企業(yè)亦如雨后春筍般成長。由于從事LED驅(qū)動研發(fā)的企業(yè)和人眾多,其技術(shù)水平參 差不齊,研發(fā)出來的LED驅(qū)動電路質(zhì)量好壞不一。導(dǎo)致LED燈具的失效時(shí)常發(fā)生,阻礙了LED照明的市場推廣。
2023-07-25 09:12:046864

PCI-Express總線發(fā)展路線圖

路線圖并沒有真正協(xié)調(diào)一致。大多數(shù) CPU 和 GPU 制造商都試圖每兩年進(jìn)行一次重大的計(jì)算引擎升級,并在重大發(fā)布之間的一年中進(jìn)行架構(gòu)和流程調(diào)整,以便他們每年都有新的東西可以銷售。
2023-07-10 12:24:25430

三星晶圓廠最新路線圖 2025年推出首個(gè)GAA制程先進(jìn)封裝

三星電子公布了其在小于 3 納米(1 米的十億分之一)半導(dǎo)體領(lǐng)域獲得競爭優(yōu)勢的技術(shù)路線圖。
2023-07-06 17:38:21922

關(guān)于ESD靜電浪涌測試在連接器端子失效分析中的應(yīng)用啟示

信號板HDMI連接器接地pin腳出現(xiàn)燒毀不良圖源:華南檢測中心本文案例,從信號板HDMI連接器接地pin腳出現(xiàn)燒毀不良現(xiàn)象展開,通過第三方實(shí)驗(yàn)室提供失效分析報(bào)告,可以聚焦失效可能原因,比如,可能輸入
2023-07-05 10:04:23238

芯片失效分析程序的基本原則

與開封前測試結(jié)果加以比較,是否有改變,管殼內(nèi)是否有水汽的影響。進(jìn)一步可將表面氧化層、鋁條去掉,用機(jī)械探針扎在有關(guān)節(jié)點(diǎn)上進(jìn)行靜態(tài)(動態(tài))測試、判斷被隔離部分是否性能正常,分析失效原因。
2023-07-05 09:43:04317

集成電路封裝失效的原因、分類和分析方法

與外界的連接。然而,在使用過程中,封裝也會出現(xiàn)失效的情況,給產(chǎn)品的可靠性帶來一定的影響。因此,對于封裝失效分析和解決方法具有很重要的意義。
2023-06-28 17:32:001779

錯(cuò)誤、失效、故障之間的區(qū)別與關(guān)系

下面是對"錯(cuò)誤"(error)、"失效"(failure)和"故障"(fault)之間的區(qū)別與關(guān)系的解釋,包括維基百科的相關(guān)定義: 錯(cuò)誤(Error): 定義:錯(cuò)誤是指在系統(tǒng)或過程中出現(xiàn)的不正確
2023-06-27 11:06:182520

溫度-機(jī)械應(yīng)力失效主要情形

集成電路封裝失效機(jī)理是指與集成電路封裝相關(guān)的,導(dǎo)致失效發(fā)生的電學(xué)、溫度、機(jī)械、氣候環(huán)境和輻射等各類應(yīng)力因素及其相互作用過程。根據(jù)應(yīng)力條件的不同,可將失效機(jī)理劃分為電應(yīng)力失效機(jī)理、溫度-機(jī)械應(yīng)力失效
2023-06-26 14:15:31603

BGA失效分析與改善對策

BGA失效分析與改善對策
2023-06-26 10:47:41438

PCBA加工焊點(diǎn)失效的原因及解決方法

  一站式PCBA智造廠家今天為大家講講PCBA加工焊點(diǎn)失效是什么原因?PCBA加工焊點(diǎn)失效的解決方法。焊點(diǎn)質(zhì)量是PCBA加工中最重要的一環(huán)。焊點(diǎn)質(zhì)量的可靠性決定了PCBA產(chǎn)品的可靠性和使用壽命
2023-06-25 09:27:49471

集成電路封裝失效分析流程

為了防止在失效分析過程中丟失封裝失效證據(jù)或因不當(dāng)順序引人新的人為的失效機(jī)理,封裝失效分析應(yīng)按一定的流程進(jìn)行。
2023-06-25 09:02:30315

集成電路封裝失效分析方法

集成電路封裝失效分析就是判斷集成電路失效中封裝相關(guān)的失效現(xiàn)象、形式(失效模式),查找封裝失效原因,確定失效的物理化學(xué)過程(失效機(jī)理),為集成電路封裝糾正設(shè)計(jì)、工藝改進(jìn)等預(yù)防類似封裝失效的再發(fā)生,提升
2023-06-21 08:53:40572

深度解析imec 晶體管和工藝節(jié)點(diǎn)路線圖

路線圖概述了標(biāo)準(zhǔn) FinFET 晶體管將持續(xù)到 3nm,然后過渡到新的全柵 (GAA) 納米片設(shè)計(jì),該設(shè)計(jì)將在 2024 年進(jìn)入大批量生產(chǎn)。Imec繪制了 2nm和A7(0.7nm)Forksheet設(shè)計(jì)的路線圖,隨后分別是A5和A2的CFET 和原子通道等突破性設(shè)計(jì)。
2023-06-14 09:31:34911

講一下失效分析中最常用的輔助實(shí)驗(yàn)手段:亮點(diǎn)分析(EMMI)

EMMI:Emission microscopy 。與SEM,F(xiàn)IB,EB等一起作為最常用的失效分析手段。
2023-06-12 18:21:182310

LED驅(qū)動電源失效的原因分析

LED驅(qū)動電源作為LED照明中不可或缺的一部分,對其電子封裝技術(shù)要求亦愈發(fā)嚴(yán)苛,不僅需要具備優(yōu)異的耐候性能、機(jī)械力學(xué)性能、電氣絕緣性能和導(dǎo)熱性能,同時(shí)也需要兼顧灌封材料和元器件的粘接性。那么在LED驅(qū)動電源的使用中,導(dǎo)致LED驅(qū)動電源失效的原因都有哪些呢?下面就跟隨名錦坊小編一起來看看吧!
2023-05-18 11:21:19851

淺談抗靜電指標(biāo)差的LED失效分析案例

紅光LED芯片是單電極結(jié)構(gòu),它兩個(gè)電極之間的材質(zhì)、厚度、襯底材料與雙電極的藍(lán)綠光LED不一樣,所承受的靜電能量要比雙電極的高很多。
2023-05-15 09:26:20423

怎樣進(jìn)行芯片失效分析?

失效分析為設(shè)計(jì)工程師不斷改進(jìn)或者修復(fù)芯片的設(shè)計(jì),使之與設(shè)計(jì)規(guī)范更加吻合提供必要的反饋信息。
2023-05-13 17:16:251365

TVS二極管失效機(jī)理與失效分析

。 通過對TVS篩選和使用短路失效樣品進(jìn)行解剖觀察獲得其失效部位的微觀形貌特征.結(jié)合器件結(jié)構(gòu)、材料、制造工藝、工作原理、篩選或使用時(shí)所受的應(yīng)力等。采用理論分析和試驗(yàn)證明等方法分析導(dǎo)致7rvS器件短路失效的原因。
2023-05-12 17:25:483678

電阻、電容、電感的常見失效分析

失效模式:各種失效的現(xiàn)象及其表現(xiàn)的形式。
2023-05-11 14:39:113227

進(jìn)口芯片失效怎么辦?做個(gè)失效分析查找源頭

芯片對于電子設(shè)備來說非常的重要,進(jìn)口芯片在設(shè)計(jì)、制造和使用的過程中難免會出現(xiàn)失效的情況。于是當(dāng)下,生產(chǎn)對進(jìn)口芯片的質(zhì)量和可靠性的要求越來越嚴(yán)格。因此進(jìn)口芯片失效分析的作用也日漸凸顯了出來,那么進(jìn)口芯片失效分析常用的方法有哪些呢?下面安瑪科技小編為大家介紹。
2023-05-10 17:46:31548

ABAQUS中的損壞與失效模型

ABAQUS為材料失效提供了一個(gè)通用建??蚣?,其中允許同一種材料應(yīng)用多種失效機(jī)制。
2023-05-02 18:12:002842

環(huán)旭電子發(fā)展先進(jìn)失效分析技術(shù)

為了將制程問題降至最低,環(huán)旭電子利用高精度3D X-Ray定位異常元件的位置,利用激光去層和重植球技術(shù)提取SiP 模組中的主芯片。同時(shí),利用X射線光電子能譜和傅立葉紅外光譜尋找元件表面有機(jī)污染物的源頭,持續(xù)強(qiáng)化SiP模組失效分析領(lǐng)域分析能力。
2023-04-24 11:31:411357

壓接型與焊接式IGBT的失效模式與失效機(jī)理

失效率是可靠性最重要的評價(jià)標(biāo)準(zhǔn),所以研究IGBT的失效模式和機(jī)理對提高IGBT的可靠性有指導(dǎo)作用。
2023-04-20 10:27:041117

半導(dǎo)體集成電路失效分析原理及常見失效分析方法介紹!

失效分析(FA)是一門發(fā)展中的新興學(xué)科,近年開始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗(yàn)證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機(jī)理的活動。在提高產(chǎn)品質(zhì)量,技術(shù)開發(fā)
2023-04-18 09:11:211360

BGA失效分析與改善對策

BGA失效分析與改善對策
2023-04-11 10:55:48577

PCB失效分析技術(shù)總結(jié)

程中出現(xiàn)了大量的失效問題。 對于這種失效問題,我們需要用到一些常用的失效分析技術(shù),來使得PCB在制造的時(shí)候質(zhì)量和可靠性水平得到一定的保證,本文總結(jié)了十大失效分析技術(shù),供參考借鑒。
2023-04-10 14:16:22749

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