輸入電容可能會成為高阻抗和高頻運算放大器（op amp）應用的一個主要規(guī)格。值得注意的是，當光電二極管的結電容較小時，運算放大器的輸入電容會成為噪聲和帶寬問題的主導因素。運算放大器的輸入電容和反饋電阻在放大器的響應中產(chǎn)生一個極點，從而影響穩(wěn)定性并增加較高頻率下的噪聲增益。因此，穩(wěn)定性和相位裕量可能會降低，輸出噪聲可能會增加。實際上，以前的一些CDM（差模電容）測量技術依據(jù)的是高阻抗反相電路、穩(wěn)定性分析以及噪聲分析。這些方法可能會非常繁瑣。在諸如運算放大器之類的反饋放大器中，總有效輸入電容由CDM與負輸入共模電容（或?qū)Φ氐腃CM–）并聯(lián)組成。CDM難以測量的原因之一是運算放大器的主要任務是防止兩個輸入不相關。與測量CDM的難度相比，直接測量對地的正輸入共模電容 CCM+相對容易一些。在運算放大器的同相引腳上放置一個較大的串聯(lián)電阻并施加正弦波或噪聲源，就可以使用網(wǎng)絡分析儀或頻譜分析儀來測量由運算放大器輸入電容而產(chǎn)生的-3 dB的頻率響應。假定CCM+和CCM–相同，特別是對于電壓反饋放大器。但是，這些年來，測量CDM變得日益困難；運算放大器的固有特性會迫使其輸入相等，從而自舉CDM，因此所使用的各種不同的技術都無法令人滿意。當輸入被強制分開并進行電流測量時，輸出將試圖進行對抗。-檢測CDM的傳統(tǒng)方法是間接測量，該方法依賴于相位裕度的降低，且因并聯(lián)使用CCM–等其他電容而變得更復雜。我們希望待測運算放大器能夠像客戶平時的用法一樣，在閉環(huán)條件下正常運行并執(zhí)行功能。建議的一種可行方法是分離輸入并進行輸出削波，但是這可能會使內(nèi)部電路無法工作（取決于運算放大器拓撲），因此實測電容可能無法反映實際工作電容。在這種方法中，不會對輸入進行過度分離，以避免輸入級的非線性以及過多的輸出擺幅或削波。本文將介紹一種簡單直接的 CDM測量方法。