氣密測(cè)試解決方案---汽摩發(fā)動(dòng)機(jī)

應(yīng)用背景發(fā)動(dòng)機(jī)作為汽車(chē)和摩托車(chē)最關(guān)鍵的心臟部位，整體的安全性可想而知，作為汽車(chē)、摩托車(chē)發(fā)動(dòng)機(jī)最必要的一環(huán)---氣密性檢測(cè)也是各個(gè)發(fā)動(dòng)機(jī)生產(chǎn)廠家最為關(guān)注的...

2024-11-26 標(biāo)簽：發(fā)動(dòng)機(jī)測(cè)試摩托車(chē) 129 0

WAT晶圓接受測(cè)試簡(jiǎn)介

WAT是英文 Wafer Acceptance Test 的縮寫(xiě)，意思是晶圓接受測(cè)試，業(yè)界也稱(chēng)WAT 為工藝控制監(jiān)測(cè)（Process Control M...

2024-11-25 標(biāo)簽：芯片測(cè)試晶圓 305 0

參考曲線(xiàn)狀態(tài)評(píng)估指南

在使用OSI系列設(shè)備進(jìn)行應(yīng)變或溫度傳感測(cè)試時(shí)，取參考是尤為重要的一個(gè)步驟。參考曲線(xiàn)能為我們提供諸如光纖樣品鏈路狀態(tài)、長(zhǎng)度等關(guān)鍵信息。因此，準(zhǔn)確理解參考曲...

2024-11-23 標(biāo)簽：測(cè)試光纖溫度傳感 205 0

循環(huán)腐蝕試驗(yàn)（CCT）：一種評(píng)估材料耐久性的動(dòng)態(tài)測(cè)試方法

鹽霧試驗(yàn)的演變與應(yīng)用鹽霧試驗(yàn)作為評(píng)估材料耐腐蝕性能的重要手段，其發(fā)展歷程體現(xiàn)了對(duì)自然環(huán)境模擬的不斷深入。從最初的恒定鹽霧測(cè)試，到噴霧-干燥循環(huán)，再到循環(huán)...

2024-11-23 標(biāo)簽：測(cè)試cct 150 0

“LoRa模塊脫機(jī)測(cè)試套件”產(chǎn)品實(shí)操測(cè)試教程

資料介紹Exx-xxxT(M)Bx-SC系列產(chǎn)品操作教程，以下是以T系列產(chǎn)品E32-433TBH-SC作為示例。1.1資料的下載在收到產(chǎn)品后

2024-11-22 標(biāo)簽：測(cè)試開(kāi)發(fā)板LoRa 157 0

CP測(cè)試和WAT測(cè)試有什么區(qū)別

本文詳細(xì)介紹了在集成電路的制造和測(cè)試過(guò)程中CP測(cè)試（Chip Probing）和WAT測(cè)試（Wafer Acceptance Test）的目的、測(cè)試對(duì)象...

2024-11-22 標(biāo)簽：集成電路測(cè)試晶圓 263 0

IV測(cè)試助力解芯片失效原因

在芯片這個(gè)微觀而又復(fù)雜的世界里，失效分析如同一場(chǎng)解謎之旅，旨在揭開(kāi)芯片出現(xiàn)故障的神秘面紗。而 IV（電流-電壓）測(cè)試作為一種重要的分析手段，在芯片失效分...

2024-11-21 標(biāo)簽：芯片測(cè)試失效分析 260 0

場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡（FESEM）與常規(guī)掃描電鏡（SEM）：技術(shù)對(duì)比及優(yōu)勢(shì)分析

場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡與SEM的比較及優(yōu)勢(shì)在微觀世界的研究中，掃描電鏡（SEM）一直是科學(xué)家們探索材料表面和內(nèi)部結(jié)構(gòu)的重要工具。隨著技術(shù)的進(jìn)步，場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡（...

2024-11-21 標(biāo)簽：測(cè)試SEM掃描電鏡 303 0

硬件電路設(shè)計(jì)的一般思路

目錄： 1、根據(jù)需求，先去找參考電路 2、沒(méi)有參考設(shè)計(jì)，自主設(shè)計(jì) 3、樣品制作 4、電路調(diào)試與測(cè)試 1、根據(jù)需求，先去找參考電路 若能找到那再好不過(guò)，比...

2024-11-21 標(biāo)簽：pcb測(cè)試硬件電路 235 0

EMC整改的正確方法

EMC整改定義是指產(chǎn)品在功能調(diào)試或EMC測(cè)試過(guò)程中出現(xiàn)問(wèn)題后所采取的彌補(bǔ)手法。 ? ? ?

2024-11-19 標(biāo)簽：測(cè)試emc 380 0

ESD HBM測(cè)試差異較大的結(jié)果分析

ESD HBM測(cè)試結(jié)果差異較大的原因，通常包括設(shè)備/儀器差異、?校準(zhǔn)和維護(hù)水平不同、?環(huán)境條件差異、?測(cè)試樣本差異、?測(cè)試操作員技能和經(jīng)驗(yàn)差異以及測(cè)試方...

2024-11-18 標(biāo)簽：ESD測(cè)試實(shí)驗(yàn)室 374 0

LD2410S測(cè)試、接線(xiàn)和常見(jiàn)問(wèn)題一文詳解

HLK-LD2410S是海凌科推出的一款爆款24G雷達(dá)模塊，不僅保持了高精準(zhǔn)識(shí)別人體運(yùn)動(dòng)狀態(tài)的能力，而且將超低功耗的特性發(fā)揮到了極致，迎合了當(dāng)今社會(huì)節(jié)能...

2024-11-16 標(biāo)簽：測(cè)試接線(xiàn)雷達(dá) 207 0

一文詳解同星CAN總線(xiàn)干擾儀的使用方法

TH7011是同星智能推出的CAN/CANFD總線(xiàn)干擾儀設(shè)備，產(chǎn)品采用RJ45以太網(wǎng)接口與PC連接，Windows系統(tǒng)免驅(qū)設(shè)計(jì)使得設(shè)備具備系統(tǒng)兼容性。配...

2024-11-16 標(biāo)簽：測(cè)試CAN總線(xiàn)通信 411 0

推拉力測(cè)試知識(shí)點(diǎn)介紹

一 、【推拉力測(cè)試介紹】 推拉力測(cè)試是一種工程測(cè)試方法，用于評(píng)估材料、器件或系統(tǒng)在受到推力或拉力作用下的性能和可靠性。這種測(cè)試廣泛應(yīng)用于多個(gè)行業(yè)，包括航...

2024-11-15 標(biāo)簽：測(cè)試smtPCBA 655 0

功率放大器在驅(qū)動(dòng)新型長(zhǎng)波通訊天線(xiàn)信號(hào)收發(fā)測(cè)試中的應(yīng)用

實(shí)驗(yàn)名稱(chēng)：功率放大器驅(qū)動(dòng)新型長(zhǎng)波通訊天線(xiàn)信號(hào)收發(fā)測(cè)試實(shí)驗(yàn)方向：長(zhǎng)波天線(xiàn)器件實(shí)驗(yàn)設(shè)備：ATA-3090C功率放大器，信號(hào)發(fā)生器、示波器、信號(hào)分析儀等實(shí)驗(yàn)?zāi)?..

2024-11-15 標(biāo)簽：測(cè)試功率放大器天線(xiàn)信號(hào) 800 0

測(cè)試光伏逆變器需要注意哪些地方呢？

在進(jìn)行光伏逆變器測(cè)試時(shí)，需要注意以下幾個(gè)關(guān)鍵方面：1.電氣安全測(cè)試：包括輸入端口絕緣電阻測(cè)試、漏電測(cè)試、接地連接測(cè)試等，以確保逆變器在電氣方面的安全性。...

2024-11-13 標(biāo)簽：測(cè)試逆變器光伏 329 0

Matter SVE認(rèn)證經(jīng)驗(yàn)分享

在Matter的開(kāi)發(fā)中，經(jīng)常需要進(jìn)行自測(cè)試，使用連接標(biāo)準(zhǔn)聯(lián)盟（CSA）提供的TestHarness（TH）工具驗(yàn)證Matter設(shè)備的功能，而參加CSA舉...

2024-11-13 標(biāo)簽：測(cè)試驗(yàn)證Matter 258 0

科普知識(shí)丨涂料的玻璃化轉(zhuǎn)變溫度（Tg）測(cè)試及分析

摘要：涂料作為一種重要的材料，其熱性能對(duì)其使用性能具有重要影響，尤其是玻璃化轉(zhuǎn)變溫度（Tg），它是衡量涂料熱穩(wěn)定性的重要參數(shù)之一。本文通過(guò)差示掃描量熱法...

2024-11-12 標(biāo)簽：測(cè)試DSC量熱儀 264 0

購(gòu)買(mǎi)電源模塊后如何測(cè)試

合適的電源選定后，仍然非常重要的是應(yīng)用于實(shí)際單元電路中的電氣性能，使用前產(chǎn)品要經(jīng)過(guò)嚴(yán)格測(cè)試合格才能使用，下面簡(jiǎn)單介紹模塊電源的一般測(cè)試方法。01電源模塊...

2024-11-10 標(biāo)簽：測(cè)試電源模塊測(cè)量 1352 0