開關電源可靠性測試是檢測開關電源質(zhì)量、穩(wěn)定性和質(zhì)量的重要手段。可靠性測試也是開關電源測試的關鍵環(huán)節(jié)，以此評估開關電源的性能和使用壽命。
2024-03-21 15:50:27
83 中芯國際車載芯片可靠性專項檢測中心涵蓋了公司自身工藝和IP、第三方IP或客戶產(chǎn)品的全面測試能力。根據(jù)AEC-Q100標準，配備了需滿足產(chǎn)品可靠度的多項測試設施，能滿足車載芯片的全方位可靠性檢測需求。
2024-03-20 14:32:48230 檢測l 板卡電性能測試及壽命特征分析l 板卡壽命及加速壽命試驗l 板卡失效分析l 板卡可靠性提升相關資質(zhì)CNAS服務
2024-03-15 17:27:02
服務內(nèi)容橫向科研技術支持和服務、高鐵裝備、零部件失效分析、可靠性試驗方案及可靠性提升方案開發(fā)與執(zhí)行、裝備及系統(tǒng)健康管理技術方案開發(fā)及軟硬件平臺搭建。服務范圍● 車體部件：側(cè)窗、底部大部件、連接件等
2024-03-15 16:46:27
服務范圍大規(guī)模集成電路芯片檢測標準●JESD22-A103/ A104/ A105/ A108/ A110●J-STD-020●JS-001/002●JESD78檢測項目（1）芯片級可靠性驗證試驗
2024-03-14 16:28:30
許多可靠性“磨損”測試監(jiān)測的是一個性能參數(shù)，該參數(shù)隨著對數(shù)變化的時間長度而穩(wěn)步下降。
2024-03-13 14:28:37316 
安規(guī)測試是對開關電源進行電氣性能、安全性能等檢測，確保開關電源符合規(guī)定并且安全可靠，為開關電源的質(zhì)量把關。那么開關電源安規(guī)測試有哪些測試要求和標準呢？
2024-03-11 14:57:12140 評估晶振在極端溫度變化環(huán)境下的穩(wěn)定性和可靠性。模擬晶振在實際使用中可能會遇到的溫度變化情況，確保它能夠在不同的溫度極端條件下保持其性能?？蓞⒖?b class="flag-6" style="color: red">標準：MIL-STD- 883E- 1011.9B。
2024-03-08 12:39:08155 
Electronics Council)制定和推動，是集成電路制造商進入汽車行業(yè)的關鍵認證之一。 該認證主要針對車載應用的芯片進行嚴格的質(zhì)量和可靠性驗證，特別是對產(chǎn)品功能和性能進行標準規(guī)范測試，以提高車載電子設備的穩(wěn)定性和標準化程度。由于車規(guī)級芯片在可靠性、安全性和使用壽命方面的要求較消費級芯片更
2024-03-05 14:00:40128 
什么樣的電子元件才是車規(guī)級的器件呢？車規(guī)級芯片有哪些可靠性要求？ 車規(guī)級的電子元件是指能夠滿足汽車行業(yè)嚴格可靠性要求的器件。由于汽車行業(yè)對電子元件的可靠性要求非常高，因此車規(guī)級的器件需要經(jīng)過
2024-02-18 11:14:42662 電子產(chǎn)品高加速壽命測試HALT、高加速應力篩選測試HASS，都是可靠性測試的方法，用于評估電子產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的性能表現(xiàn)和可靠性。那他們之前的區(qū)別是什么呢，跟隨本文來一起了解。
2024-01-30 10:25:44206 
封裝可靠性最重要的可靠性測試，也是進行器件壽命模型建立和壽命評估的根本。服務范圍車規(guī)級功率器件模塊及基于分立器件的等效特殊設計產(chǎn)品。檢測標準● DINENISO/
2024-01-29 22:46:02
標準。安森美(onsemi)作為一家半導體供應商，為高要求的應用提供能在惡劣環(huán)境下運行的產(chǎn)品，且這些產(chǎn)品達到了高品質(zhì)和高可靠性。之前我們分享了如何對IGBT進行可靠性測試，今天我們來介紹如何通過可靠性審核程序確保IGBT的產(chǎn)品可靠性。
2024-01-25 10:21:16997 
標準。安森美 (onsemi) 作為一家半導體供應商，為高要求的應用提供能在惡劣環(huán)境下運行的產(chǎn)品，且這些產(chǎn)品達到了高品質(zhì)和高可靠性。
2024-01-17 09:56:32448 
前言 光器件的可靠性標準中，我們最常接觸的應該就是GR-468和GR-1209/1221了。GR-468重點講了有源器件的可靠性要求，而GR-1209/1221重點講無源器件的可靠性要求。雖然涵蓋
2024-01-15 09:32:54114 
本文將介紹半導體的可靠性測試及標準。除了詳細介紹如何評估和制定相關標準以外，還將介紹針對半導體封裝預期壽命、半導體封裝在不同外部環(huán)境中的可靠性，及機械可靠性等評估方法。 什么是產(chǎn)品可靠性？ 半導體
2024-01-13 10:24:17711 
杭州廣立微電子股份有限公司近日推出了一款全新的晶圓級可靠性（Wafer Level Reliability WLR）測試設備，該設備具備智能并行測試功能，能夠顯著縮短測試時間，提高工作效率。
2023-12-28 15:02:23362 電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《IPC-9797A_EN 汽車要求和其他高可靠性應用的壓配標準.pdf》資料免費下載
2023-12-25 09:48:38
8 當今競爭激烈的汽車市場中，汽車的品質(zhì)和可靠性已成為消費者選擇的重要標準。通過整車可靠性測試，汽車制造商可以確保他們的產(chǎn)品在各種極端條件下都能表現(xiàn)出色，從而贏得消費者的信任和滿意度。
此外，整車
2023-12-22 17:16:20355 
在進行船舶產(chǎn)品可靠性測試之前，需要進行了充分的準備工作。需要準備各種先進的測試設備和儀器。得以模擬真實使用環(huán)境中的條件，如溫度、濕度、壓力等，以確保測試的準確性和可靠性。
2023-12-22 17:14:28153 
半導體可靠性測試主要是為了評估半導體器件在實際使用過程中的可靠性和穩(wěn)定性。這些測試項目包括多種測試方法和技術，以確保產(chǎn)品的性能、質(zhì)量和可靠性滿足設計規(guī)格和用戶需求。下面是關于半導體可靠性測試的詳細
2023-12-20 17:09:04696 及應用， 然而， 相比金線鍵合， 由于銅線特殊的材料屬性和鍵合工藝， 其可靠應用面臨一定的挑戰(zhàn)。為了確保汽車電子系統(tǒng)的高可靠性和穩(wěn)定性， 汽車電子委員會制定了一系列標準和認證要求， 其中針對銅線鍵合器件于 2016 年發(fā)布了 AEC-Q006 標準。 對AEC-Q00
2023-12-18 14:07:14326 
SDNAND可靠性驗證測試的重要性SDNAND可靠性驗證測試至關重要。通過檢驗數(shù)據(jù)完整性、設備壽命、性能穩(wěn)定性，確保產(chǎn)品符合標準，可提高產(chǎn)品的可信度、提高品牌聲譽，減少維修成本，確保
2023-12-14 14:29:34164 
可靠性測試是電源模塊測試的一項重要測試內(nèi)容，是檢測電源模塊穩(wěn)定性、運行狀況的重要測試方法。隨著對電源模塊的測試要求越來越高，用電源模塊測試系統(tǒng)測試電源模塊可以提高測試效率，確保測試結果可靠性，滿足測試要求。
2023-12-13 15:36:36384 近日，杭州廣立微電子股份有限公司正式推出了晶圓級可靠性（Wafer Level Reliability WLR）測試設備。該產(chǎn)品支持智能并行測試，可大幅度縮短WLR的測試時間。同時，可以結合廣立微提供的定制化軟件系統(tǒng)來提升用戶工作效率。
2023-12-07 11:47:37434 
加速環(huán)境應力可靠性測試：需要對芯片進行加速環(huán)境應力測試，模擬高溫、低溫、濕熱和溫度循環(huán)等極端環(huán)境條件。這些測試旨在評估芯片在極端溫度條件下的可靠性和穩(wěn)定性。
2023-12-05 14:05:28565 子高可靠性和穩(wěn)定性要求，可用于環(huán)境溫度范圍-40°C~105°C的大部分車載應用環(huán)境。
武漢芯源半導體始終將安全可靠性要求放在第一位，遵循AEC-Q100測試標準，進行了包括高溫工作壽命試驗
2023-11-30 15:47:01
近日，深圳市航順芯片技術研發(fā)有限公司（下文稱“航順芯片”）HK32AUTO39A家族產(chǎn)品經(jīng)第三方權威檢測機構廣電計量檢測集團（下文稱“廣電計量”）嚴格的可靠性標準測試，順利完成AEC-Q100 Grade 1 -40~125℃車規(guī)認證。
2023-11-28 15:06:03349 
如何判斷標準PoE供電交換機的可靠性？ 隨著物聯(lián)網(wǎng)和智能家居的快速發(fā)展，越來越多的設備需要使用到以太網(wǎng)供電（Power over Ethernet，PoE）交換機。在選擇合適的PoE交換機時，評估
2023-11-28 14:18:46263 柵既解決柵極氧化層的可靠性問題、又提高了SiCMOSFET的性能?增強型M1HCoolSiC芯片又“強“在哪里？英飛凌零碳工業(yè)功率事業(yè)部高級工程師趙佳女士，在2023英
2023-11-28 08:13:57372 
，應盡量簡化設計，簡化電路和結構設計，使每個部件都成為最簡設計。當今世界流行的模塊化設計方法是提高設備可靠性的有效措施。塊功能相對單一，系統(tǒng)由模塊組成，可以減少設計的復雜性，將設計標準化、規(guī)范化
2023-11-22 06:29:05
到酷熱的沙漠地帶都有可能面對，溫度極大程度上影響車規(guī)芯片的性能和可靠性。下面將詳細介紹車規(guī)芯片三溫測試的意義和重要性。 首先，理解三溫測試的概念。三溫測試是指在惡劣和極端溫度環(huán)境下對車規(guī)芯片的性能和可靠性進行
2023-11-21 16:10:482596 芯片出廠前的測試主要包括芯片功能測試、性能測試和可靠性測試，這三大類測試是缺一不可的。
2023-11-21 14:53:36242 如何提升基于DC-DC模塊的電源系統(tǒng)的可靠性？ 基于DC-DC模塊的電源系統(tǒng)可靠性是關乎設備穩(wěn)定運行的重要因素。為了提高可靠性，我們可以從設計、選型、制造、測試和維護等方面進行優(yōu)化和改進。以下是一些
2023-11-17 14:35:58323 器件可靠性驗證是GR-468最重要的一個項目，標準對光電子器件可靠性試驗的執(zhí)行程序與主要項目（測試項，試驗條件，樣本量等）進行了說明。主要測試內(nèi)容分為器件性能測試、器件應力測試和器件加速老化測試。
2023-11-10 17:47:27628 可靠性測試是半導體器件測試的一項重要測試內(nèi)容，確保半導體器件的性能和穩(wěn)定性，保證其在各類環(huán)境長時間工作下的穩(wěn)定性。半導體可靠性測試項目眾多，測試方法多樣，常見的有高低溫測試、熱阻測試、機械沖擊測試、引線鍵合強度測試等。
2023-11-09 15:57:52744 
芯片的老化試驗及可靠性如何測試？ 芯片的老化試驗及可靠性測試是評估芯片性能和使用壽命的關鍵步驟。老化試驗旨在模擬芯片在長期使用過程中可能遭遇的各種環(huán)境和應激，并確定芯片的可靠性和耐久性。本文將詳細
2023-11-09 09:12:011120 機械溫控開關的可靠性有多少？我看溫控開關的體積很小，價格便宜，可以用于一些溫度控制方面，不過可靠性有多少呢？
2023-10-31 06:37:26
電學測試是芯片測試的一個重要環(huán)節(jié)，用來描述和評估芯片的電性能、穩(wěn)定性和可靠性。芯片電學測試包括直流參數(shù)測試、交流參數(shù)測試和高速數(shù)字信號性能測試等。
2023-10-26 15:34:14629 半導體器件可靠性測試指的是評估半導體器件在不同工作條件下的長期穩(wěn)定性和可靠性的一系列測試和分析方法。這些測試旨在確保半導體器件在其設計壽命內(nèi)能夠正常運行，不會出現(xiàn)意外故障，從而滿足用戶和應用的需求
2023-10-25 09:19:15635 
智能鑰匙是一種新型的智能家居設備，它使你可以通過手機或者其他智能設備輕松地控制你的房門、車門、辦公室等入口。智能鑰匙可以提供更加便捷、安全和智能化的操作方式，但是這種設備并非完美無缺，它也面臨著一些風險和缺陷，需要經(jīng)過可靠性測試，確保它能夠可靠地運行。
2023-10-17 14:07:57239 
電子元器件可靠性測試是保證元器件性能和質(zhì)量的一個重要測試項目，同時也是電子設備可靠性的基礎。常見的可靠性測試項目有機械沖擊測試、高溫存儲測試、溫度循壞測試、引線鍵合強度測試等。
2023-10-11 14:49:05350 
基于可靠性試驗所用的菊花鏈測試結構，對所設計的扇出型封裝結構進行了完整的菊花鏈芯片制造及后道組裝工藝制造，并對不同批次、不同工藝參數(shù)條件下的封裝樣品進行電學測試表征、可靠性測試和失效樣品分析。
2023-10-08 10:18:15217 
通過PLC組態(tài)軟件提高系統(tǒng)可靠性的幾項措施
2023-09-25 06:26:12
電流探頭是一種用于測量電路中電流的設備，通常與萬用表或示波器一起使用。它是一個重要的測試工具，因此必須進行驗證以確保其可靠性。
2023-09-22 10:53:07242 
服務內(nèi)容廣電計量是國內(nèi)振動試驗能力較完善的權威檢測認證服務機構之一，配備了（1~35）噸不同推力的振動臺，可滿足不同尺寸、重量的樣品的振動測試需求。服務范圍本商品可提供針對家用電器、汽車零部件、線束
2023-09-21 16:52:00
龍騰半導體建有功率器件可靠性與應用實驗中心，專注于產(chǎn)品設計驗證、參數(shù)檢測、可靠性驗證、失效分析及應用評估，公司參考半導體行業(yè)可靠性試驗條件和抽樣原則，制定產(chǎn)品可靠性規(guī)范并依此對產(chǎn)品進行完整可靠性驗證。
2023-09-20 16:29:21808 
硬件IIC與軟件IIC在使用上的區(qū)別，對產(chǎn)品可靠性與效率的影響
2023-09-20 07:53:05
MCU可靠性設計——小芯片里的大學問
2023-09-18 10:58:41264 
(MGEQ1C064AD48)于今年6月已獲AEC-Q100 Grade2車規(guī)級可靠性認證，滿足安全標準車規(guī)級MCU的功能，近期也正導入試產(chǎn)中，預計今年第4季可實現(xiàn)規(guī)模量產(chǎn)。
表1_車規(guī)等級芯片要求
資料來源: 方正證券
2023-09-15 12:04:18
和多功能化要求，以及無鉛、無鹵進程的推動，對PCB可靠性的要求會越來越高，因此如何快速定位PCB可靠性問題并作相應的可靠性提升成為PCB企業(yè)的重要課題之一。
2023-08-31 15:46:08521 smt電子元器件焊接可靠性判斷標準有哪些
2023-08-22 11:35:22815 
碳化硅作為第三代半導體經(jīng)典的應用，具有眾多自身優(yōu)勢和技術優(yōu)勢，它所制成的功率器件在生活中運用十分廣泛，越來越無法離開，因此使用碳化硅產(chǎn)品的穩(wěn)定性在一定程度上也決定了生活的質(zhì)量。作為高尖精的產(chǎn)品，芯片的可靠性測試貫徹始終，從設計到選材再到最后的出產(chǎn)，那研發(fā)過程中具體需要做哪些測試呢
2023-08-18 09:52:23750 
從以前的模式中進行掃描，然后掃描除第一種以外的所有以及測試程序中的最后一個模式。
2023-08-11 09:38:02553 
壽命測試是一種重要的可靠性測試方法，用于評估組件、子系統(tǒng)或系統(tǒng)在預期或指定的使用壽命條件下的性能和可靠性。壽命測試旨在模擬實際應用環(huán)境中物品所面臨的各種因素和應力，例如時間、溫度、振動、沖擊、電壓等，并通過持續(xù)的測試和監(jiān)測來觀察物品在這些條件下的行為。
2023-08-01 16:31:20505 季豐電子面向客戶提供完整的半導體工藝可靠性測試、驗證和咨詢服務，可有效縮短制造工藝和器件開發(fā)的時間，加速客戶產(chǎn)品投入市場的進程周期。 ? 工藝可靠性業(yè)務主要基于行業(yè)通用及客戶定制標準、產(chǎn)品、工藝特點
2023-07-23 11:16:121376 
前言 光器件的可靠性標準中，我們最常接觸的應該就是GR-468和GR-1209/1221了。GR-468重點講了有源器件的可靠性要求，而GR-1209/1221重點講無源器件的可靠性要求。雖然涵蓋
2023-07-20 18:10:43889 
固有可靠性指的是什么？指的是在生產(chǎn)過程中已經(jīng)確立的可靠性，它是產(chǎn)品內(nèi)在的可靠性，是生產(chǎn)廠家模擬實際工作條件的標準環(huán)境下，對產(chǎn)品進行檢查并給予保證的可靠性。固有可靠性由電子元器件的生產(chǎn)單位電子元器件
2023-07-17 09:16:08850 
在半導體器件中，常見的一些加速因子為溫度、濕度、電壓和電流。 在大多數(shù)情況下，加速測試不改變故障的物理特性，但會轉(zhuǎn)移觀察時間。 加速條件和正常使用條件之間的轉(zhuǎn)移稱為“降額”。那么半導體可靠性測試有哪些？讓凱智通小編告訴你~
2023-07-13 14:47:182544 
安全性促進可靠性設計：安全性要求通常會推動可靠性設計的實施。為了滿足安全性要求，產(chǎn)品設計人員需要考慮風險評估、故障預防和容錯設計等措施。這些措施有助于提高產(chǎn)品的可靠性，減少故障率，增加產(chǎn)品在不安全環(huán)境下的穩(wěn)定性和可用性。
2023-07-12 10:44:132790 設備的可靠性涉及多個方面：穩(wěn)定的硬件、優(yōu)秀的軟件架構、嚴格的測試以及市場和時間的檢驗等等。
2023-07-11 10:09:32212 電子產(chǎn)品可靠性測試是為了評估產(chǎn)品在規(guī)定的壽命期間內(nèi)，在預期的使用、運輸或儲存等所有環(huán)境下，保持功能可靠性而進行的活動。是將產(chǎn)品暴露在自然的或人工的環(huán)境條件下經(jīng)受其作用，以評價產(chǎn)品在實際使用、運輸
2023-07-04 14:30:441184 目標到2025年,重點行業(yè)關鍵核心產(chǎn)品的可靠性水平明顯提升，可靠性標準體系基本建立，企業(yè)質(zhì)量與可靠性管理能力不斷增強，可靠性試驗驗證能力大幅提升，專業(yè)人才隊伍持續(xù)壯大。
2023-07-04 11:26:39313 
到2030年，10類關鍵核心產(chǎn)品可靠性水平達到國際先進水平，可靠性標準引領作用充分彰顯，培育一批可靠性公共服務機構和可靠性專業(yè)人才，我國制造業(yè)可靠性整體水平邁上新臺階，成為支撐制造業(yè)高質(zhì)量發(fā)展的重要引擎。
2023-07-04 11:15:07471 車規(guī)級功率器件未來發(fā)展趨勢
材料方面: SiC和GaN是必然趨勢，GaAs在細分領域有可能
●封裝方面:高功率密度、高可靠性和定制化
●評測方面:多應力綜合測試方法、新型結溫測試方法和技術
●進展方面:國產(chǎn)在趕超進口(參數(shù)和性能)，可靠性還需要時間沉淀
2023-07-04 10:48:05415 
在芯片測試中，分類和選擇是關鍵的步驟，以確保芯片的質(zhì)量和可靠性。根據(jù)不同的測試目標和要求，可以采用不同的分類方法和選擇策略。
2023-06-30 13:50:22478 芯片封裝測試是在芯片制造過程的最后階段完成的一項重要測試，它主要用于驗證芯片的封裝質(zhì)量和功能可靠性。芯片封裝測試包括以下主要方面。
2023-06-28 13:49:561167 拉力試驗機夾具的初始距離、材質(zhì)、規(guī)格、定制、種類、廠家等因素都對測試的準確性和可靠性具有重要影響。在使用拉力試驗機夾具時，需要根據(jù)被測物體的特性和測試要求，選擇合適的夾具，確保測試的準確性和可靠性。
2023-06-27 13:37:29459 
IEC 62308的范圍規(guī)定“本標準描述了項目的可靠性評估方法。適用于任務、安全、業(yè)務關鍵、高完整性、復雜電子產(chǎn)品。它包含有關為什么需要可靠性以及如何以及在何處使用評估結果的信息。最后，它詳細說明了如何選擇可靠性評估方法以及支持評估所需的數(shù)據(jù)。
2023-06-27 09:55:11508 
單片GaN器件集成驅(qū)動功率轉(zhuǎn)換的效率、密度和可靠性
2023-06-21 09:59:28
通過集成和應用相關壓力測試的GaN可靠性
2023-06-21 06:02:18
GaNPower集成電路的可靠性測試與鑒定
2023-06-19 11:17:46
GaN功率集成電路可靠性的系統(tǒng)方法
2023-06-19 06:52:09
，保險絲/熔斷器提供必要的過負載保護。最新的AEC-Q200修訂版E確定了保險絲/熔斷器廠商的測試要求，并確保符合AEC-Q200認證的保險絲/熔斷器能高標準地滿足耐用性和可靠性。本文介紹了汽車電子理事會、AEC-Q200標準及其新修訂版E。 ? 當今汽車電氣化供電需求復雜而
2023-06-15 16:53:541009 
封裝可靠性設計是指針對集成電路使用中可能出現(xiàn)的封裝失效模式，采取相應的設計技術，消除或控制失效模式，使集成電路滿足規(guī)定的可靠性要求所采取的技術活動。
2023-06-15 08:59:55505 芯片功能測試常用5種方法有板級測試、晶圓CP測試、封裝后成品FT測試、系統(tǒng)級SLT測試、可靠性測試。
2023-06-09 16:25:42
芯片功能測試常用5種方法有板級測試、晶圓CP測試、封裝后成品FT測試、系統(tǒng)級SLT測試、可靠性測試。
2023-06-09 15:46:581663 
提高可靠性最簡單的方法就是把文件系統(tǒng)設置為只讀狀態(tài)。即禁止對其中的內(nèi)容作任何修改。這樣，文件系統(tǒng)便不會因?qū)懭氩僮髌陂g發(fā)生故障而受損。
2023-06-08 09:49:51860 
軍用電子元器件二篩，二次篩選試驗，進口元器件可靠性篩選試驗
按性質(zhì)分類：
（1）檢查篩選：顯微鏡檢查、紅外線非破壞檢查、X射線非破壞性檢查。
（2）密封性篩選：液浸檢漏、氦質(zhì)譜檢漏、放射性示蹤檢漏
2023-06-08 09:17:22
芯片測試治具是一種用于芯片測試的實驗室設備，可以實現(xiàn)芯片的功能測試、參數(shù)測試和性能測試，它可以幫助電子工程師驗證芯片的性能和可靠性，實現(xiàn)芯片的精確測試和優(yōu)化。
2023-05-30 15:26:25453 試驗，電壓暫降測試，騷擾功率試驗，電磁抗擾試驗室，射頻測試，電磁場輻射試驗，抗繞度試驗，電瞬態(tài)干擾試驗，插入損耗試驗等。
可靠性試驗/可靠性測試：
可靠性強化試驗，加速壽命試驗（halt），環(huán)境應力篩選試驗（ess），可靠性驗收試驗，可靠性鑒定試驗，可靠性增長試驗。
2023-05-23 15:55:57
可靠性測試對于芯片的制造和設計過程至關重要。通過進行全面而嚴格的可靠性測試，可以提前發(fā)現(xiàn)并解決潛在的設計缺陷、制造問題或環(huán)境敏感性，從而確保芯片在長期使用中的性能和可靠性。
2023-05-20 16:47:5211453 
課程名稱：《硬件電路可靠性設計、測試與案例分析》講師：王老師時間地點：北京6月15日-17日主辦單位：賽盛技術課程特色1.案例多，案例均來自于電路設計缺陷導致的實際產(chǎn)品可靠性問題2.課程內(nèi)容圍繞電路
2023-05-18 10:40:50350 
我想知道產(chǎn)品MPC5200CVR400B和PCF8582C-2T/03的MTBF或FIT值來做可靠性預測工作
2023-05-17 08:49:55
支持系統(tǒng)的導航設備和立體成像設備中。
?不同位置的PCB的不同可靠性要求
就公共安全而言，汽車屬于高可靠性產(chǎn)品類別，因此，汽車PCB必須通過一些可靠性測試，而尺寸，尺寸，機械和電氣性能等一般
2023-04-24 16:34:26
昂貴且復雜的離散互連電纜會降低設計的可靠性，增加設計成本和總體設計尺寸。幸運的是，還有其他形式的柔性和柔性剛硬的PCB.柔性PCB可以為您提供滿足您的設計互連要求的經(jīng)濟高效且方便的解決方案，并
2023-04-21 15:52:50
點擊藍字關注我們SUBSCRIBEtoUSLED汽車照明市場在最近幾年得到了飛速的發(fā)展,LED器件在符合汽車照明標準體系的同時，也面臨著成本和可靠性方面的多重挑戰(zhàn)。一、LED汽車照明標準體系1.國際
2023-04-21 09:22:30366 
PCB設計中的可靠性有哪些？ 實踐證明，即使電路原理圖設計正確，如果PCB設計不當，也會對電子設備的可靠性產(chǎn)生不利的影響。舉個簡單的例子，如果PCB兩條細平行線靠得很近的話，則會造成信號波形
2023-04-10 16:03:54
半導體元器件在高溫環(huán)境下的可靠性是制造商和用戶十分關注的問題。高溫試驗是一種常用的測試方法，通過模擬實際使用中的高溫環(huán)境，可以評估元器件在高溫下的性能和可靠性。高溫試驗需要仔細設計實驗方案，包括選擇
2023-04-07 10:21:03766 
我想知道這些設備的可靠性數(shù)據(jù)，例如 MTBF 和 FIT，BSS138PW BSS84AKW，115
2023-04-03 08:12:35
可靠性/可用性驗證測試FIT:定義及目的
FIT (Fault Injection Test) :故障注入測試,通過向系統(tǒng)注入在實際應用中可能發(fā)生的故障,觀察系統(tǒng)功能性能變化,故
障檢測、定位、隔離以及故障恢復情況，發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品缺陷、評估系統(tǒng)可靠性的測試方法。
2023-03-29 09:18:47589 電子產(chǎn)品的可靠性和可用性。 射頻組件測試的目的 射頻組件測試的目的是確保射頻組件的性能符合要求，以確保電子產(chǎn)品的可靠性和可用性。射頻組件測試的主要內(nèi)容包括射頻組件的發(fā)射功率測試、射頻組件的接收靈敏度測試、射
2023-03-28 16:33:16362 
嗨，我在哪里可以獲得以下芯片的可靠性測試報告？FS32K144HAT0MLHTPCA85073ADPTJA1044GT/3
2023-03-23 06:20:13
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